[发明专利]一种弧形面渐变背景下弱线缺陷的检测方法在审
| 申请号： | 202011548091.4 | 申请日： | 2020-12-24 |
| 公开（公告）号： | CN112598647A | 公开（公告）日： | 2021-04-02 |
| 发明（设计）人： | 解三霞 | 申请（专利权）人： | 凌云光技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/194 |
| 代理公司： | 北京弘权知识产权代理有限公司 11363 | 代理人： | 逯长明;许伟群 |
| 地址： | 100094 北京市海淀*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请提供一种弧形面渐变背景下弱线缺陷的检测方法，获取待检测图像和所述待检测图像的像素灰度；用预设固定大小的掩膜区在所述待检测图像上逐像素遍历，以获得所述待检测图像上所述掩膜区对应像素点的像素值；计算所述掩膜区对应像素点的灰度均值和标准差；当所述待检测图像的像素灰度与所述掩膜区对应像素点的灰度均值的差值大于预设灰度差时，所述掩膜区为目标区域；获取所述待检测图像中所有的目标区域；对所述所有的目标区域通过预设阈值范围进行特征提取，得到子目标区域；筛选所述子目标区域中的点类背景；去除所述待检测图像中所述子目标区域的点类背景，得到弱线缺陷的检测结果。本申请在弧形面渐变背景下精准且全面的检测出弱线缺陷。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 弧形 渐变 背景 下弱线 缺陷 检测 方法 | ||
【主权项】：
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