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[发明专利]产品质量检测方法和装置-CN202310271226.4在审
发明人：盖顺华;解三霞;周钟海 -专利权人：凌云光技术股份有限公司
申请日： 2023-03-17 - 公布日： 2023-06-06 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本申请公开了一种产品质量检测方法和装置，属于工业检测技术领域。所述产品质量检测方法包括：对获取的待测产品对应的产品图像进行缺陷特征识别，获取所述产品图像对应的缺陷等级；接收第一输入，所述第一输入用于输入目标阈值；响应于所述第一输入，基于所述缺陷等级和所述目标阈值，确定产品质量等级。本申请的产品质量检测方法，能够在生产过程中的缺陷基准规格变更的情况下，一键调整待测产品的产品质量等级，无需重新设计拟合公式，操作简单便捷，从而显著节省了参数调整时间，提高了产品的质量检测效率；还能够精准识别待测产品的缺陷等级，识别结果的准确性较高。
产品质量检测方法装置

[发明专利]一种图像前景提取方法及系统-CN202211561974.8在审
发明人：宋成鑫;解三霞;时广军;周钟海;杨艺 -专利权人：凌云光技术股份有限公司
申请日： 2022-12-07 - 公布日： 2023-05-16 - 主分类号： G06T7/194 文献下载
摘要：本申请涉及图像处理技术领域，具体而言，涉及一种图像前景提取方法及系统，一定程度上可以解决前景提取准确性差的问题。所述图像前景提取方法包括：将第一图像向第一方向平移第一距离，获得第二图像；将所述第一图像向与所述第一方向相反的方向平移第二距离，获得第三图像；对所述第一图像及所述第二图像进行阈值处理，获取第一前景区域图像；对所述第一图像及所述第三图像进行阈值处理，获取第二前景区域图像；基于所述第一前景区域图像和所述第二前景区域图像，获取所述第一图像的真实前景区域图像。
一种图像前景提取方法系统

[发明专利]一种孔内缺陷检测方法、系统及装置-CN202211689606.1在审
发明人：伍雨辰;解三霞;周钟海;时广军;姚毅 -专利权人：深圳市凌云视迅科技有限责任公司;凌云光技术股份有限公司
申请日： 2022-12-27 - 公布日： 2023-04-11 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本申请涉及缺陷检测技术领域，具体而言，涉及一种孔内缺陷检测方法、系统及装置，一定程度上可以解决孔内凸点类缺陷检测结果不准确的问题。所述方法包括：定位待测图像中的待检测区域；获取所述待检测区域的标准边框，确定所述待检测区域的实际边框与所述标准边框之间的偏差，当所述偏差大于预设值时，所述待检测区域存在缺陷。
一种缺陷检测方法系统装置

[发明专利]一种缺陷检测方法、装置、终端设备及存储介质-CN202211689608.0在审
发明人：康照川;解三霞;周钟海;时广军;杨艺 -专利权人：凌云光技术股份有限公司
申请日： 2022-12-27 - 公布日： 2023-03-14 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本申请涉及缺陷检测技术领域，具体而言，涉及一种缺陷检测方法、装置、终端设备及存储介质，一定程度上可以解决弱缺陷检测过程中存在弱缺陷检测效果差的问题。在待检测图像中确定初始前景区域，将初始前景区域中各行像素点或各列像素点的初始灰度值映射到坐标空间的离散区域，基于坐标空间中的预设直线区域和离散区域，确定目标闭合区域的凸集区域，以及基于凸集区域中与离散区域对应的外轮廓点的坐标，确定初始灰度值对应目标灰度值，进而确定目标前景区域；最后基于初始前景区域与目标前景区域的差值图像，可确定弱缺陷；通过上述过程增强弱缺陷与图像其他部分之间的灰度差，提高弱缺陷检测过程中弱缺陷检测效果。
一种缺陷检测方法装置终端设备存储介质

[发明专利]一种缺陷检测方法、装置、设备和存储介质-CN202111505582.5在审
发明人：宋成鑫;解三霞;周钟海;姚毅;杨艺 -专利权人：苏州凌云视界智能设备有限责任公司;苏州凌云光工业智能技术有限公司;凌云光技术股份有限公司
申请日： 2021-12-10 - 公布日： 2022-04-15 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本申请实施例公开了一种缺陷检测方法、装置、设备和存储介质。其中，对待检测物的原始图像进行阈值分割，得到目标阈值分割图像；对所述原始图像进行角点检测，得到参考缺陷点；根据所述目标阈值分割图像和所述参考缺陷点进行处理，得到所述待检测物的缺陷存在情况。本申请实施例的技术方案，对待检测物的原始图像进行阈值分割，消除了图像中的无关信息，降低错检概率。同时通过参考缺陷点确定缺陷的存在情况，进一步的降低过检，提高了缺陷检测的准确度和精度，为用户对待检测物的质检提供有效的依据。
一种缺陷检测方法装置设备存储介质

[发明专利]缺陷检测方法、装置、设备及存储介质-CN202111546419.3在审
发明人：康照川;解三霞;周钟海;姚毅;杨艺 -专利权人：苏州凌云视界智能设备有限责任公司;苏州凌云光工业智能技术有限公司;凌云光技术股份有限公司
申请日： 2021-12-16 - 公布日： 2022-04-08 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本申请实施例公开了一种缺陷检测方法、装置、设备及存储介质，所述方法包括：确定待检测显示屏的目标灰度图像；对所述目标灰度图像依次进行至少两次阈值分割，并根据最末次阈值分割结果，确定所述待检测显示屏的缺陷区域；其中，各次阈值分割时采用的分割阈值根据本次阈值分割的参考灰度图像确定；首次阈值分割的参考灰度图像为所述目标灰度图像，非首次阈值分割的参考灰度图像为前次阈值分割的输出图像；通过上述技术方案，实现了在散弱缺陷提取过程中，保证缺陷轮廓整体的完整性。
缺陷检测方法装置设备存储介质

[发明专利]一种缺陷检测方法、装置、设备以及存储介质-CN202111572297.5在审
发明人：盖顺华;解三霞;周钟海;姚毅;杨艺 -专利权人：苏州凌云视界智能设备有限责任公司;苏州凌云光工业智能技术有限公司;凌云光技术股份有限公司
申请日： 2021-12-21 - 公布日： 2022-04-05 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明实施例公开了一种缺陷检测方法、装置、设备以及存储介质。该方法包括：采用第一圆形卷积核对待检测图像进行形态学开运算或形态学闭运算，得到第一图像；其中，所述待检测图像为圆孔翻边工件的图像；对所述待检测图像进行圆拟合操作，得到拟合圆；采用第二圆形卷积核对所述拟合圆进行形态学膨胀运算，得到第二图像；根据所述待检测图像、所述第一图像和所述第二图像，确定所述圆孔翻边工件的翻边是否存在缺陷。本发明实施例降低了圆孔形变对检测结果的影响，提高了圆孔缺陷检测的精确度。
一种缺陷检测方法装置设备以及存储介质

[发明专利]缺陷检测方法、装置、设备及存储介质-CN202111518451.0在审
发明人： 解三霞;时广军;周钟海;姚毅;杨艺 -专利权人：苏州凌云视界智能设备有限责任公司;凌云光技术股份有限公司
申请日： 2021-12-10 - 公布日： 2022-03-25 - 主分类号： G01N21/63 文献下载
摘要：本申请实施例公开了一种缺陷检测方法、装置、设备及存储介质，所述方法包括：获取待检测物体表面的原始灰度图像；将所述原始灰度图像中的各像素点，根据该像素点的邻域像素点的灰度值，对该像素点的灰度值进行调整，得到灰度调整图像；对所述灰度调整图像进行阈值分割，并根据阈值分割结果，确定所述待检测物体的缺陷检测结果；通过上述技术方案，在有效提取缺陷的基础上，提高了检测速度，满足了物体缺陷的快速检测要求。
缺陷检测方法装置设备存储介质

[发明专利]一种显示屏缺陷高精度检测方法及系统-CN201910081145.1有效
发明人：高敏;姚毅;解三霞;路建伟;马增婷 -专利权人：凌云光技术股份有限公司
申请日： 2019-01-28 - 公布日： 2021-10-29 - 主分类号： G01N21/956 文献下载
摘要：本申请公开一种显示屏缺陷高精度检测方法及系统，方法包括获取全局图像，确定缺陷区域；提取缺陷区域的亮暗信息；拍摄缺陷位置在不同层的对焦图像，确定缺陷所在的具体层位置；根据检测基准对缺陷进行不良品判定；系统包括低精度灰度相机，处理器，高精度彩色相机及显示器；本申请的方法及系统通过高精度彩色相机对缺陷位置局部进行高精度拍摄，可实现缺陷位置局部的子像素级图像处理，同时引入模拟点度量标准来判定亮点亮度，通过对不良程度进行精确量化，保证与实际检测标准对比后检测出的缺陷正确，避免误检。
一种显示屏缺陷高精度检测方法系统

[发明专利]一种显微成像系统对焦面快速标定、对焦定位方法及装置-CN201811318299.X有效
发明人：王太兴;姚毅;解三霞;路建伟;马增婷 -专利权人：凌云光技术股份有限公司
申请日： 2018-11-07 - 公布日： 2021-08-27 - 主分类号： G02B21/36 文献下载
摘要：本申请公开一种显微成像系统对焦面快速标定、对焦定位方法及装置。标定方法包括选取待检测屏幕的四个端点和中心点作为标定点，标定点将待检测屏幕划分为四个平面区域；建立四个平面区域的平面方程；求解平面方程，得到平面方程系数。对焦定位方法包括获取待对焦点的缺陷坐标；根据缺陷坐标判定待对焦点所在平面区域；根据待对焦点所在平面区域的平面方程及缺陷坐标，确定待对焦点与待检测屏幕的距离。本申请把屏幕屏划分成四个三角区域，分别进行平面方程拟合，降低因距离引起的累计误差，又因三角形平面使各个点的误差得到了最大程度降低，本申请既避免以手机屏整个区域来做平面导致没有涉及到的角非常模糊的现象，也简化曲面方程拟合。
一种显微成像系统对焦快速标定定位方法装置

[发明专利]一种弧形面渐变背景下弱线缺陷的检测方法-CN202011548091.4在审
发明人： 解三霞 -专利权人：凌云光技术股份有限公司
申请日： 2020-12-24 - 公布日： 2021-04-02 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本申请提供一种弧形面渐变背景下弱线缺陷的检测方法，获取待检测图像和所述待检测图像的像素灰度；用预设固定大小的掩膜区在所述待检测图像上逐像素遍历，以获得所述待检测图像上所述掩膜区对应像素点的像素值；计算所述掩膜区对应像素点的灰度均值和标准差；当所述待检测图像的像素灰度与所述掩膜区对应像素点的灰度均值的差值大于预设灰度差时，所述掩膜区为目标区域；获取所述待检测图像中所有的目标区域；对所述所有的目标区域通过预设阈值范围进行特征提取，得到子目标区域；筛选所述子目标区域中的点类背景；去除所述待检测图像中所述子目标区域的点类背景，得到弱线缺陷的检测结果。本申请在弧形面渐变背景下精准且全面的检测出弱线缺陷。
一种弧形渐变背景下弱线缺陷检测方法

[发明专利]一种工业检测自适应分类方法及装置-CN201811353574.1有效
发明人：王太兴;姚毅;解三霞;路建伟;马增婷 -专利权人：凌云光技术集团有限责任公司
申请日： 2018-11-14 - 公布日： 2020-07-31 - 主分类号： G01M11/00 文献下载
摘要：本申请公开一种工业检测自适应分类方法及装置，该方法可以预设分割参数特征提取范围、基准参数寻优范围。根据所给分割参数特征提取范围自动遍历所有分割，并把形成基准参数信息记录成文档，然后，根据基准参数寻优范围自动寻找遍历去寻找最优分割线。该方法可以让计算机去自动分类，大大节约了人力，提升了效率，并支持大批量样品情况下的参数全遍历寻优。
一种工业检测自适应分类方法装置

[发明专利]一种面光源亮度均匀性调节方法、装置及系统-CN201610490674.3有效
发明人：杨艺;解三霞;周钟海 -专利权人：凌云光技术集团有限责任公司
申请日： 2016-06-28 - 公布日： 2019-06-21 - 主分类号： G09G3/34 文献下载
摘要：本发明实施例公开了一种面光源亮度均匀性调节方法、装置及系统，其中，该方法包括：获取待测面光源的图像，并将所述图像进行分割，形成至少一个图像分割块；其中，待测面光源由至少一个面光源单元构成，所述图像分割块与所述面光源单元对应；获取所述图像分割块的灰度值；将灰度值处于标准灰度范围外，且与预设标准灰度值相差最大的图像分割块确定为目标图像分割块，调节与所述目标图像分割块对应的面光源单元的亮度。本发明实施例能够自动调节面光源的亮度均匀性，操作方便，减小误差。
一种光源亮度均匀调节方法装置系统

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