[发明专利]不光洁探测面的水浸探伤方法在审
申请号: | 202011054554.1 | 申请日: | 2020-09-29 |
公开(公告)号: | CN114324613A | 公开(公告)日: | 2022-04-12 |
发明(设计)人: | 强超 | 申请(专利权)人: | 贵州安大航空锻造有限责任公司 |
主分类号: | G01N29/24 | 分类号: | G01N29/24;G01N29/28 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 561005 贵州省*** | 国省代码: | 贵州;52 |
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摘要: | 本发明公开了一种不光洁探测面的水浸探伤方法,其特征在于,利用聚焦探头焦柱附近区域声束截面小、能量集中的特点,通过对整个检测截面进行分区扫查,减小每次检测监控的范围,可以在使用较小仪器增益情况下,满足检测灵敏度要求。同时探头焦点附近区域声场所包含的工件体积范围小,减小了超声波与工件组织相互作用的概率,降低表面粗糙及工件组织漫反射所产生的杂波干扰,改善检测信噪比。该方法适用粗糙探测面的水浸检测。 | ||
搜索关键词: | 光洁 探测 探伤 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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