[发明专利]碳化硅基体的制造方法、半导体装置的制造方法、碳化硅基体和半导体装置在审
| 申请号： | 202010905516.6 | 申请日： | 2020-09-01 |
| 公开（公告）号： | CN113113293A | 公开（公告）日： | 2021-07-13 |
| 发明（设计）人： | 西尾让司;太田千春 | 申请（专利权）人： | 株式会社东芝 |
| 主分类号： | H01L21/04 | 分类号： | H01L21/04;H01L21/329;H01L21/331;H01L29/04;H01L29/06;H01L29/739;H01L29/861 |
| 代理公司： | 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 | 代理人： | 张智慧 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供高品位的碳化硅基体的制造方法、半导体装置的制造方法、碳化硅基体和半导体装置。根据实施方式，在碳化硅基体的制造方法中，包括准备第1基体。第1基体包括第1基体面且包含碳化硅。第1基体面相对于第1基体的(0001)面倾斜。第1基体的(0001)面与第1基体面交叉的第1线段沿着第1基体的[11‑20]方向。制造方法包括在第1基体面形成包含碳化硅的第1层。制造方法包括将第1层的一部分除去。通过一部分的除去而露出的第1层的第1层面相对于第1层的(0001)面倾斜。第1层的(0001)面与第1层面交叉的第2线段沿着[‑1100]方向。 | ||
| 搜索关键词： | 碳化硅 基体 制造 方法 半导体 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
