[发明专利]三维存储器设备的开口布局在审

专利信息
申请号: 202010840359.5 申请日: 2018-03-01
公开(公告)号: CN112201661A 公开(公告)日: 2021-01-08
发明(设计)人: 何佳;黄海辉;刘藩东;杨要华;洪培真;夏志良;霍宗亮;冯耀斌;陈保友;曹清晨 申请(专利权)人: 长江存储科技有限责任公司
主分类号: H01L27/11551 分类号: H01L27/11551;H01L27/11524;H01L27/1157;H01L27/11578
代理公司: 北京永新同创知识产权代理有限公司 11376 代理人: 林锦辉;刘景峰
地址: 430223 湖北省武*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 本公开涉及三维存储器设备的开口布局,并公开了半导体设备以及用于形成半导体设备的方法。用于形成设备开口的方法包括:在衬底(200)的第一区域(I)和第二区域(II)上形成材料层(600),该第一区域(I)邻近第二区域(II);在材料层上(600)形成掩模层(500),该掩模层(500)覆盖第一区域(I)和第二区域(II);以及在掩模层(500)上形成图案化层(101)。图案化层(101)覆盖第一区域(I)和第二区域(II)并且包括对应于第一区域(I)的开口。多个开口包括与第一区域(I)和第二区域(II)的交界相邻的第一开口(110)、以及离该交界较远的第二开口(120)。沿着与衬底(200)的顶面平行的平面,第一开口(110)的尺寸大于第二开口(120)的尺寸。
搜索关键词: 三维 存储器 设备 开口 布局
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