[发明专利]具有测试接口的存储装置有效
| 申请号： | 202010694237.X | 申请日： | 2020-07-17 |
| 公开（公告）号： | CN112242176B | 公开（公告）日： | 2022-04-05 |
| 发明（设计）人： | S·汉纳 | 申请（专利权）人： | 美光科技公司 |
| 主分类号： | G11C29/42 | 分类号： | G11C29/42;G11C29/44;G11C29/56 |
| 代理公司： | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人： | 王龙 |
| 地址： | 美国爱*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本申请涉及一种具有测试接口的存储装置。一种实例系统包括：主总线，其电耦合到由测试模式信号控制的主多路复用器，以在主物理接口PHY与多个从总线中的一个从总线之间进行选择，其中每一从总线电耦合到由所述测试模式信号控制的相应从多路复用器，以在相应从PHY与所述主总线之间进行选择；多个存储器组件，其中所述多个存储器组件中的每一存储器组件电耦合到以下各项中的一者：所述主总线或所述多个从总线中的一个从总线；以及存储器测试接口，其电耦合到所述主总线。 | ||
| 搜索关键词： | 具有 测试 接口 存储 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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