[发明专利]物体表面发射率的测量方法、装置、设备及存储介质

摘要

本发明公开了一种物体表面发射率的测量方法，包括根据待测物体表面在红外光源照射下和无红外光源照射下，红外传感器感应待测物体辐射的红外光线输出的第一红外感应信号和第二红外感应信号、红外光源辐射红外传感器产生的第三红外感应信号，确定待测物体表面对红外光源输出的红外光的反射率；再根据反射率确定待测物体的发射率。本申请中在对待测物体的发射率进行测量时，无需采用标准样品作参照，且能够很好的排除外界环境对测试结果产生的误差干扰，对测试条件要求低，简化测试过程，提高测试结果的准确率。本申请还提供了一种物体表面发射率的测量装置、设备以及计算机可读存储介质，具有上述有益效果。