[发明专利]物体表面发射率的测量方法、装置、设备及存储介质

说明书

本发明公开了一种物体表面发射率的测量方法，包括根据待测物体表面在红外光源照射下和无红外光源照射下，红外传感器感应待测物体辐射的红外光线输出的第一红外感应信号和第二红外感应信号、红外光源辐射红外传感器产生的第三红外感应信号，确定待测物体表面对红外光源输出的红外光的反射率；再根据反射率确定待测物体的发射率。本申请中在对待测物体的发射率进行测量时，无需采用标准样品作参照，且能够很好的排除外界环境对测试结果产生的误差干扰，对测试条件要求低，简化测试过程，提高测试结果的准确率。本申请还提供了一种物体表面发射率的测量装置、设备以及计算机可读存储介质，具有上述有益效果。

技术领域

本发明涉及材料发射率的技术领域，特别是涉及一种物体表面发射率的测量方法、装置、设备及计算机可读存储介质。

背景技术

发射率定义为同等温度下材料表面辐射能与黑体辐射能的比值。各种材料的表面发射率是材料的一项重要的热物性参数。材料发射率的测量涉及到材料在航空航天、军事、化工、建筑、医疗、新能源等多个领域的应用。

现有技术中针对材料的发射率的测量方法主要包括三种：量热法、反射率法、辐射能量法。而目前所采用的反射率法中往往需要用到标准样品参照，测试条件苛刻，且不能消除因被测样品对周围环境辐射的反射带来的误差，对发射率较低的样品的发射率难以测量。

发明内容

本发明的目的是提供一种物体表面发射率的测量方法、装置、设备以及计算机可读存储介质，提高测得的物体表面发射率的准确性。

为解决上述技术问题，本发明提供一种物体表面发射率的测量方法，包括：

分别采集待测物体表面在红外光源照射下和无所述红外光源照射下，所述红外传感器感应所述待测物体辐射的红外光线输出的第一红外感应信号和第二红外感应信号；

采集所述红外光源的红外光线辐射所述红外传感器产生的第三红外感应信号；

根据所述第一红外感应信号、所述第二红外感应信号以及所述第三红外感应信号，确定所述待测物体表面对所述红外光源输出的红外光的反射率；

根据所述反射率，以及所述待测物体的反射率和发射率之间的对应关系，确定所述待测物体的发射率。

在本申请的一种可选的实施例中，根据所述第一红外感应信号、所述第二红外感应信号以及所述第三红外感应信号，确定所述待测物体表面对所述红外光源输出的红外光的反射率，包括：

根据所述待测物体表面的反射率公式：e＝(S₂-S₁)/S₃，确定所述反射率e；其中，S₁为所述第一红外感应信号，S₂为所述第二红外感应信号，S₃为所述第三红外感应信号。

在本申请的一种可选的实施例中，根据所述反射率，以及所述待测物体的反射率和发射率之间的对应关系，确定所述待测物体的发射率，包括：

根据所述待测物体的反射率和发射率之间满足的对应关系：E＝1-e，确定所述待测物体的发射率E。

本申请还提供了一种物体表面发射率的测量装置，包括：

第一采集模块，用于分别采集待测物体表面在红外光源照射下和无所述红外光源照射下，所述红外传感器感应所述待测物体辐射的红外光线输出的第一红外感应信号和第二红外感应信号；

第二采集模块，用于采集所述红外光源的红外光线辐射所述红外传感器产生的第三红外感应信号；

反射率模块，用于根据所述第一红外感应信号、所述第二红外感应信号以及所述第三红外感应信号，确定所述待测物体表面对所述红外光源输出的红外光的反射率；