[发明专利]物体表面发射率的测量方法、装置、设备及存储介质

权利要求书

1.一种物体表面发射率的测量方法，其特征在于，包括：

分别采集待测物体表面在红外光源照射下和无所述红外光源照射下，红外传感器感应所述待测物体辐射的红外光线输出的第一红外感应信号和第二红外感应信号；

采集所述红外光源的红外光线辐射所述红外传感器产生的第三红外感应信号；

根据所述第一红外感应信号、所述第二红外感应信号以及所述第三红外感应信号，确定所述待测物体表面对所述红外光源输出的红外光的反射率；

根据所述反射率，以及所述待测物体的反射率和发射率之间的对应关系，确定所述待测物体的发射率。

2.如权利要求1所述的物体表面发射率的测量方法，其特征在于，根据所述第一红外感应信号、所述第二红外感应信号以及所述第三红外感应信号，确定所述待测物体表面对所述红外光源输出的红外光的反射率，包括：

根据所述待测物体表面的反射率公式：e＝(S₂-S₁)/S₃，确定所述反射率e；其中，S₁为所述第一红外感应信号，S₂为所述第二红外感应信号，S₃为所述第三红外感应信号。

3.如权利要求2所述的物体表面发射率的测量方法，其特征在于，根据所述反射率，以及所述待测物体的反射率和发射率之间的对应关系，确定所述待测物体的发射率，包括：

根据所述待测物体的反射率和发射率之间满足的对应关系：E＝1-e，确定所述待测物体的发射率E。

4.一种物体表面发射率的测量装置，其特征在于，包括：

第一采集模块，用于分别采集待测物体表面在红外光源照射下和无所述红外光源照射下，所述红外传感器感应所述待测物体辐射的红外光线输出的第一红外感应信号和第二红外感应信号；

第二采集模块，用于采集所述红外光源的红外光线辐射所述红外传感器产生的第三红外感应信号；

反射率模块，用于根据所述第一红外信号、所述第二红外信号以及所述第三红外信号，确定所述待测物体表面对所述红外光源输出的红外光的反射率；

发射率模块，用于根据所述反射率，以及所述待测物体的反射率和发射率之间的对应关系，确定所述待测物体的发射率。

5.如权利要求4所述的物体表面发射率的测量装置，其特征在于，所述反射率模块，具体用于根据所述待测物体表面的反射率公式：e＝(S₂-S₁)/S₃，确定所述反射率e；其中，S₁为所述第一红外感应信号，S₂为所述第二红外感应信号，S₃为所述第三红外感应信号。

6.一种物体表面发射率的测量设备，其特征在于，包括红外光源、红外传感器以及信号处理器；

其中，所述红外传感器用于分别感应待测物体在所述红外光源的照射下和无所述红外光源照射下的辐射红外光线，产生第一红外感应信号和第二红外感应信号；还用于感应所述红外光源的红外光线辐射，产生第三红外感应信号；

所述信号处理器用于根据所述第一红外感应信号、所述第二红外感应信号、所述第三红外感应信号，执行如权利要求1至3任一项所述的物体表面发射率的测量方法的步骤。

7.如权利要求6所述的物体表面发射率的测量设备，其特征在于，还包括设置在所述红外传感器的入射光路上的光学镜头。

8.如权利要求7所述的物体表面发射率的测量设备，其特征在于，还包括可移动的反射镜，用于当所述红外传感器检测所述红外光源的红外光线辐射时，移动至所述红外光源的出射光路上，并将所述红外光源的红外光线反射入射至所述红外传感器。