[发明专利]硅漂移探测器的制备方法有效
申请号: | 202010544828.9 | 申请日: | 2020-06-15 |
公开(公告)号: | CN111525002B | 公开(公告)日: | 2022-05-03 |
发明(设计)人: | 陶科;贾锐;姜帅;刘新宇;金智;张立军;王冠鹰;欧阳晓平 | 申请(专利权)人: | 中国科学院微电子研究所 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;H01L31/118;H01L31/028 |
代理公司: | 北京天达知识产权代理事务所(普通合伙) 11386 | 代理人: | 张通 |
地址: | 100029 *** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本说明书提供一种硅漂移探测器的制备方法,包括沉积步骤;所述沉积步骤包括:以四氟化锗、高阶硅烷和掺杂剂硅烷作为反应气体,采用化学气相沉积工艺在具有钝化膜的硅衬底上沉积重掺杂锗薄膜,使重掺杂锗薄膜在硅衬底的对应区域形成功能区。因为高阶硅烷能够在较低温情况下被激活而与四氟化锗反应,所以在锗薄膜形成过程中可以采用低温工艺,而低温工艺可以避免扩散工艺和离散注入工艺中的高温对硅衬底的损伤,有利于获得较高的体寿命,提高硅漂移探测器的能量分辨率。 | ||
搜索关键词: | 漂移 探测器 制备 方法 | ||
【主权项】:
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的