[发明专利]半导体装置在审

专利信息
申请号: 202010490048.0 申请日: 2020-06-02
公开(公告)号: CN112054019A 公开(公告)日: 2020-12-08
发明(设计)人: 田畑光晴 申请(专利权)人: 三菱电机株式会社
主分类号: H01L27/02 分类号: H01L27/02;H01L27/06;H01L29/739;H01L29/861;H02M7/487;H02M7/5387
代理公司: 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 代理人: 何立波;张天舒
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明涉及半导体装置。就RC‑IGBT芯片(1)而言,阳极电极膜(21)和发射极电极膜(17)隔开距离地配置。阳极电极膜(21)和发射极电极膜(17)通过具有外部阻抗(27)及外部阻抗(29)的配线导体(41)电连接。外部阻抗(27)及外部阻抗(29)包含配线导体(41)的电阻和配线导体(41)的电感。
搜索关键词: 半导体 装置
【主权项】:
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