[发明专利]半导体探测器测量中子能谱的方法在审
申请号: | 202010338345.3 | 申请日: | 2020-04-26 |
公开(公告)号: | CN111487672A | 公开(公告)日: | 2020-08-04 |
发明(设计)人: | 刘建忠;商洁;孔海宇;王龙江;杨凯;林海鹏;杨彪;谷伟刚;冯晓波;安艳龙;席强伟 | 申请(专利权)人: | 中国辐射防护研究院 |
主分类号: | G01T3/08 | 分类号: | G01T3/08 |
代理公司: | 北京天悦专利代理事务所(普通合伙) 11311 | 代理人: | 田明;任晓航 |
地址: | 030006 山*** | 国省代码: | 山西;14 |
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摘要: | 本发明涉及半导体探测器测量中子能谱的方法,将慢化球体在半径方向分成至少5个球壳区域;将半导体探测器安装于所述球壳区域内,测量球体内热中子的分布;按照球壳区域分类对半导体探测器的测量数据进行数据处理;利用解谱软件对处理后的数据进行解计算,得到解谱结果。本发明的有益效果如下:本发明通过将一个慢化球虚拟地分成若干层球壳区域,并在每层放置至少一个半导体中子探测器,模拟若干个球的多球谱仪,探测器可同时工作,一个测量周期即可获取全部测量数据,节省大量时间且能够降低工作人员的辐射风险。本发明工艺简单、成本低有很强的实用性。 | ||
搜索关键词: | 半导体 探测器 测量 中子 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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