[发明专利]半导体探测器测量中子能谱的方法在审
| 申请号： | 202010338345.3 | 申请日： | 2020-04-26 |
| 公开（公告）号： | CN111487672A | 公开（公告）日： | 2020-08-04 |
| 发明（设计）人： | 刘建忠;商洁;孔海宇;王龙江;杨凯;林海鹏;杨彪;谷伟刚;冯晓波;安艳龙;席强伟 | 申请（专利权）人： | 中国辐射防护研究院 |
| 主分类号： | G01T3/08 | 分类号： | G01T3/08 |
| 代理公司： | 北京天悦专利代理事务所(普通合伙) 11311 | 代理人： | 田明;任晓航 |
| 地址： | 030006 山*** | 国省代码： | 山西;14 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 半导体 探测器 测量 中子 方法 | ||
1.半导体探测器测量中子能谱的方法，其特征在于，将慢化球体在半径方向分成至少5个球壳区域；将半导体探测器安装于所述球壳区域内，测量球体内热中子的分布；按照球壳区域分类对半导体探测器的测量数据进行数据处理；利用解谱软件对处理后的数据进行解计算，得到解谱结果。
2.如权利要求1所述的半导体探测器测量中子能谱的方法，其特征在于，所述慢化球体分为5-7个球壳区域。
3.如权利要求1所述的半导体探测器测量中子能谱的方法，其特征在于，所述测量球体内热中子的分布是在一个测量周期内进行。
4.如权利要求1所述的半导体探测器测量中子能谱的方法，其特征在于，除了最中心的球壳区域，剩余的每个球壳区域内的至少有两个半导体探测器，同一球壳区域内的半导体探测器均匀分布。
5.如权利要求4所述的半导体探测器测量中子能谱的方法，其特征在于，除了最中心的球壳区域，剩余的每个球壳区域内有6个半导体探测器；所述半导体探测器两两对应分成三组；相互对应的两个半导体探测器连线穿过所述慢化球体的球心；三条所述相互对应的两个半导体探测器连线相互垂直。
6.如权利要求5所述的半导体探测器测量中子能谱的方法，其特征在于，不同球壳区域的半导体探测器排布成三条直线，这三条直线中的任两条均相互垂直。
7.如权利要求1-6任一所述的半导体探测器测量中子能谱的方法，其特征在于，所述半导体探测器的灵敏区内涂覆有6LiF膜。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国辐射防护研究院，未经中国辐射防护研究院许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202010338345.3/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
