[发明专利]一种高精度硅基掩模版及其加工方法在审
申请号: | 202010279272.5 | 申请日: | 2020-04-10 |
公开(公告)号: | CN113512697A | 公开(公告)日: | 2021-10-19 |
发明(设计)人: | 魏钰;周成刚;王秀霞;何逸昭;孙剑 | 申请(专利权)人: | 中国科学技术大学 |
主分类号: | C23C14/04 | 分类号: | C23C14/04;C23C14/24;C23C16/34;C23C16/40;C23C16/44;C23C16/50;C23C16/56 |
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摘要: | 本发明提供了一种高精度硅基掩模版及其加工方法。本发明采用SOI片作为基底,SOI片中间的氧化硅层既可以作为正面深硅刻蚀的截止层,又可以作为背面开窗湿法刻蚀的截止层,可以在背面湿法刻蚀时保护正面的精细图形,有效防止刻蚀液从背面破坏正面的图形;同时采用先干刻正面图形再湿刻开窗的工艺顺序,可以提高正面深硅刻蚀的均匀性,硅片不同区域的刻蚀深度的偏差在5%以内。另外,该方法制备的硅基掩模版的最小线宽为2微米,镂空部分最薄为20微米,机械强度高,可重复利用,图形可定制。 | ||
搜索关键词: | 一种 高精度 硅基掩 模版 及其 加工 方法 | ||
【主权项】:
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