[发明专利]半导体测试数据的处理系统、方法、装置与服务器有效
| 申请号： | 202010151024.2 | 申请日： | 2020-03-06 |
| 公开（公告）号： | CN111352752B | 公开（公告）日： | 2021-04-20 |
| 发明（设计）人： | 宋鹏飞 | 申请（专利权）人： | 普迪飞半导体技术(上海)有限公司 |
| 主分类号： | G06F9/54 | 分类号： | G06F9/54 |
| 代理公司： | 上海慧晗知识产权代理事务所(普通合伙) 31343 | 代理人： | 徐海晟 |
| 地址： | 200433 上海市杨*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种半导体测试数据的处理系统、方法、装置与服务器，该系统，包括：服务器集群，所述服务器集群包括多个服务器；所述服务器集群部署有高可用等待队列。所述多个服务器中的任意之一服务器利用所启动的执行单元实施以下过程：自所述等候队列取走排在最前的数据组；其中的数据组中包含了用于记载对应待处理文件的文件信息位，以及用于记载对应处理步骤的步骤信息位若所述当前数据组记载有第N个处理步骤，(N为＝1的整数)，则：对所述文件执行所述第N个处理步骤。本发明实现了执行单元、服务器相对于处理流程中各处理步骤的解耦，降低了故障风险，充分发挥了服务器集群的性能，提高了并行性、可用性及可扩展性。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体 测试数据 处理 系统 方法 装置 服务器 | ||
【主权项】：
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