[发明专利]半导体测试数据的处理系统、方法、装置与服务器

说明书

本发明提供了一种半导体测试数据的处理系统、方法、装置与服务器，该系统，包括：服务器集群，所述服务器集群包括多个服务器；所述服务器集群部署有高可用等待队列。所述多个服务器中的任意之一服务器利用所启动的执行单元实施以下过程：自所述等候队列取走排在最前的数据组；其中的数据组中包含了用于记载对应待处理文件的文件信息位，以及用于记载对应处理步骤的步骤信息位若所述当前数据组记载有第N个处理步骤，(N为＝1的整数)，则：对所述文件执行所述第N个处理步骤。本发明实现了执行单元、服务器相对于处理流程中各处理步骤的解耦，降低了故障风险，充分发挥了服务器集群的性能，提高了并行性、可用性及可扩展性。

技术领域

本发明涉及半导体领域，尤其涉及一种半导体测试数据的处理系统、方法、装置与服务器。

背景技术

半导体领域中，可在半导体器件的制备、加工、使用过程中对其进行测试，目前，业界半导体测试数据的种类和数据量日益增加，数据处理的步骤也日趋复杂。

现有的相关技术中，可针对于待处理数据配置特定的处理流程，处理流程中可包含多个步骤，进而，服务器可针对于多个步骤逐一实施自动化处理。可见，其中存在着单点故障风险，若处理某个步骤的程序失败或服务器宕机，将严重影响后续的处理。而且并行性不高，处理效率低下。

发明内容

本发明提供一种半导体测试数据的处理系统、方法、装置与服务器，以解决存在单点故障风险的问题并提高并行性。

根据本发明的第一方面，提供了一种半导体测试数据的处理系统，包括：服务器集群，所述服务器集群包括多个服务器；所述多个服务器部署有等候队列；

所述多个服务器中的任意之一当前服务器用于利用所启动的执行单元实施以下过程：

自所述等候队列取走排在最先的当前数据组；其中的数据组中包含了用于记载对应待处理文件的文件信息位，以及用于记载对应处理步骤的步骤信息位；

若所述当前数据组记载有第N个处理步骤，其中的N为大于或等于1的整数，则：执行所述第N个处理步骤。

根据本发明的第二方面，提供了一种半导体测试数据的处理方法，应用于服务器集群的多个服务器中任意之一当前服务器，所述多个服务器部署有等候队列，所述半导体测试数据的处理方法，包括：

利用所启动的执行单元实施：自所述消息队列服务器的等候队列中取走排在最先的当前数据组；其中的数据组中包含了用于记载对应待处理文件的文件信息位，以及用于记载对应处理步骤的步骤信息位；

利用所启动的执行单元实施：若所述当前数据组记载有第N个处理步骤，其中的N为大于或等于1的整数，则：执行所述第N个处理步骤。

根据本发明的第三方面，提供了一种半导体测试数据的处理装置，应用于服务器集群的多个服务器中任意之一当前服务器，所述多个服务器中部署有等候队列，所述半导体测试数据的处理装置，包括：

数据组获取模块，用于利用所启动的执行单元实施：自所述等候队列中取走排在最先的当前数据组；其中的数据组中包含了用于记载对应待处理文件的文件信息位，以及用于记载对应处理步骤的步骤信息位；

数据组执行模块，用于利用所启动的执行单元实施：若所述当前数据组记载有第N个处理步骤，其中的N为大于或等于1的整数，则：执行所述第N个处理步骤。

根据本发明的第四方面，提供了一种服务器集群中的服务器，包括处理器与存储器，

所述存储器，用于存储代码和相关数据；

所述处理器，用于执行所述存储器中的代码用以实现第二方面及其可选方案涉及的半导体测试数据的处理方法。