[发明专利]半导体测试数据的处理系统、方法、装置与服务器

权利要求书

1.一种半导体测试数据的处理系统，其特征在于，包括：服务器集群，所述服务器集群包括多个服务器；所述多个服务器中部署有等候队列；

所述多个服务器中的任意之一当前服务器用于利用所启动的执行单元实施以下过程：

自所述等候队列取走排在最先的当前数据组；其中的数据组中包含了用于记载对应待处理文件的文件信息位，以及用于记载对应处理步骤的步骤信息位，所述当前数据组中所记载的待处理文件为当前文件；

若所述当前数据组记载有第N个处理步骤，其中的N为大于或等于1的整数，则：执行所述第N个处理步骤；

根据半导体数据的处理流程的描述信息，确定针对于所述当前文件的第N+1个处理步骤，产生对应的新数据组，所述新数据组记载了所述第N+1个处理步骤，再将所述新数据组加入所述等候队列，以使得：所述新数据组排至所述等候队列中最先的数据组时能够被任意服务器取走。

2.根据权利要求1所述的半导体测试数据的处理系统，其特征在于，所述多个服务器部署有至少一个消息队列，所述消息队列中运维有所述等候队列，部署有所述消息队列的服务器用于：

若自需处理的数据流中获取到待处理文件，则：产生针对于所述待处理文件的初始数据组，并将所述初始数据组加入等候队列；所述初始数据组中的步骤信息位记载有步骤未定标识，所述步骤未定标识表征了所述初始数据组中未记载具体的处理步骤；

所述当前数据组中所记载的待处理文件为当前文件；

所述当前服务器还用于利用所启动的执行单元实施以下过程：

若所述当前数据组为记载有所述步骤未定标识的初始数据组，则根据半导体数据的处理流程的描述信息，确定针对于所述当前文件的第一个处理步骤，产生对应的新数据组，所述新数据组记载了所述第一个处理步骤；再将所述新数据组加入所述等候队列，以使得：所述新数据组排至所述等候队列中最先的数据组时能够被任意服务器取走。

3.根据权利要求1所述的半导体测试数据的处理系统，其特征在于，所述当前数据组是所述当前服务器或其他服务器加入所述等候队列的。

4.根据权利要求1所述的半导体测试数据的处理系统，其特征在于，所述当前服务器自所述等候队列中取走排在最先的当前数据组之前，还用于：

根据所述当前服务器的数据处理资源，启动匹配数量的执行单元，所述数据处理资源包括CPU资源和/或内存资源。

5.根据权利要求1所述的半导体测试数据的处理系统，其特征在于，其中的数据组中还包括用于记载对应处理步骤的重试次数的次数信息位；

所述当前服务器在执行所述第N个处理步骤之后，还用于利用所启动的执行单元实施以下过程：

若执行所述第N个处理步骤失败，则累加一次所述当前数据组中所记载的重试次数；

若累加后的重试次数未超出重试次数阈值，则产生新数据组，并将所述新数据组加入所述等候队列，以使得：所述新数据组排至所述等候队列中最先的数据组时能够被任意服务器取走，所述新数据组中记载的处理步骤为所述第N个处理步骤，所述新数据组中记载的重试次数累加后的重试次数。

6.根据权利要求5所述的半导体测试数据的处理系统，其特征在于，所述当前服务器在累加一次所述当前数据组中所记载的重试次数之后，还用于：

若累加后的重试次数超出所述重试次数阈值，则为所述当前数据组打上失败标识，得到具有失败标识的数据组；

将所述具有失败标识的数据组加入失败队列。

7.根据权利要求2所述的半导体测试数据的处理系统，其特征在于，所述多个服务器中部署有数据库，所述描述信息存储于所述数据库，且各服务器能够自所述数据库调取所述描述信息。

8.根据权利要求7所述的半导体测试数据的处理系统，其特征在于，所述数据库为etcd数据库。

9.根据权利要求1至8任一项所述的半导体测试数据的处理系统，其特征在于，所述等候队列为Kafka消息队列。