[发明专利]辅助图形的配置方法、掩膜版及其形成方法和相关设备在审
申请号: | 202010130479.6 | 申请日: | 2020-02-28 |
公开(公告)号: | CN113325662A | 公开(公告)日: | 2021-08-31 |
发明(设计)人: | 柏锋;张婉娟;黄宜斌;徐垚;张帆 | 申请(专利权)人: | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司;中芯国际集成电路制造(北京)有限公司 |
主分类号: | G03F1/36 | 分类号: | G03F1/36;G03F1/70 |
代理公司: | 上海知锦知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31327 | 代理人: | 高静 |
地址: | 201203 上海市浦东新*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明实施例提供一种辅助图形的配置方法、掩膜版及其形成方法和相关设备,其中所述配置方法包括:提供主图形,所述主图形具有沿第一方向延伸的边,第二方向与第一方向垂直,所述主图形曝光时在第一方向具有第一最佳焦平面,在第二方向具有第二最佳焦平面,所述第一最佳焦平面与所述第二最佳焦平面之间具有最佳焦平面偏移量;在所述主图形周围提供初始辅助图形;提取所述初始辅助图形的配置参数,所述配置参数与所述最佳焦平面偏移量具有对应关系;基于配置参数的调整,获得与预设最佳焦平面偏移量对应的配置信息;根据所述配置信息在主图形周围配置辅助图形。本发明实施例有利于提高光刻质量。 | ||
搜索关键词: | 辅助 图形 配置 方法 掩膜版 及其 形成 相关 设备 | ||
【主权项】:
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- 专利分类
G03 摄影术;电影术;利用了光波以外其他波的类似技术;电记录术;全息摄影术
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
G03F1-22 .用于通过100nm或更短波长辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射线掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
G03F1-36 .具有临近校正特征的掩膜;其制备,例如光学临近校正(OPC)设计工艺
G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备
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