[发明专利]具有带有外延块的源极或漏极结构的环绕栅集成电路结构在审
申请号: | 202010106455.7 | 申请日: | 2020-02-21 |
公开(公告)号: | CN111725301A | 公开(公告)日: | 2020-09-29 |
发明(设计)人: | C·邦伯格;A·默西;M·T·博尔;T·加尼;B·古哈 | 申请(专利权)人: | 英特尔公司 |
主分类号: | H01L29/08 | 分类号: | H01L29/08;H01L29/06;H01L29/10;H01L29/423;H01L27/088;H01L21/8234 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 邬少俊 |
地址: | 美国加*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本公开描述了具有带有外延块的源极或漏极结构的环绕栅集成电路结构,以及制造具有带有外延块的源极或漏极结构的环绕栅集成电路结构的方法。例如,集成电路结构包括水平纳米线的第一垂直布置和水平纳米线的第二垂直布置。第一对外延源极或漏极结构包括与水平纳米线的第一垂直布置对准的垂直分立部分。第二对外延源极或漏极结构包括与水平纳米线的第二垂直布置对准的垂直分立部分。导电接触结构在横向上处于第一对外延源极或漏极结构中的一个与第二对外延源极或漏极结构中的一个之间,并且与第一对外延源极或漏极结构中的一个和第二对外延源极或漏极结构中的一个接触。 | ||
搜索关键词: | 具有 带有 外延 结构 环绕 集成电路 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于英特尔公司,未经英特尔公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202010106455.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:声到达角检测的方法和系统
- 下一篇:半导体装置及半导体封装
- 同类专利
- 专利分类