[发明专利]半导体器件、制造半导体器件的方法及其系统在审
申请号: | 202010076575.7 | 申请日: | 2020-01-23 |
公开(公告)号: | CN111490042A | 公开(公告)日: | 2020-08-04 |
发明(设计)人: | 陈重辉;张子敬;陈万得 | 申请(专利权)人: | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
主分类号: | H01L27/02 | 分类号: | H01L27/02;G06F30/392 |
代理公司: | 北京德恒律治知识产权代理有限公司 11409 | 代理人: | 章社杲;李伟 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | 半导体器件包括:有源区,位于晶体管层中;接触件‑源极/漏极(CSD)导体,位于晶体管层中;栅极导体,位于晶体管层中并与相应的CSD导体交错;VG结构,位于晶体管层中以及有源区上方;以及第一栅极信号承载(GSC)导体,位于晶体管层上方的M_1st层中,该第一GSC导体位于有源区上方;并且其中,有源区和第一GSC导体的相应长轴基本在第一方向上延伸;并且CSD导体和栅极导体的相应长轴基本在第二方向上延伸,第二方向基本垂直于第一方向。本发明的实施例还提供了制造半导体器件的方法及其系统。 | ||
搜索关键词: | 半导体器件 制造 方法 及其 系统 | ||
【主权项】:
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的