[发明专利]一种基于自旋织构的存储器及其制备方法在审

专利信息
申请号: 201911234564.0 申请日: 2019-12-05
公开(公告)号: CN112928158A 公开(公告)日: 2021-06-08
发明(设计)人: 张文旭;滕钊;曾慧中;张万里 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: H01L29/66 分类号: H01L29/66
代理公司: 成都点睛专利代理事务所(普通合伙) 51232 代理人: 葛启函;霍淑利
地址: 611731 四川省成*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明涉及一种基于自旋织构的存储器,包括基底、铁电层和铁磁层;所述铁电层位于所述基底上;所述铁磁层位于所述铁电层上;所述基底的材料为导电材料,所述铁电层的材料为GeTe、SnTe或HfO2,所述铁磁层的材料为传导电子具有自旋极化的材料。本发明的存储器件具有低功耗、尺寸小、可高密度集成、结构设计简单、读写速度快、与CMOS工艺兼容的优势。本发明还涉及一种基于自旋织构的存储器的制备方法。
搜索关键词: 一种 基于 自旋 存储器 及其 制备 方法
【主权项】:
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