[发明专利]静动态力-磁耦合材料性能测试仪器在审

专利信息
申请号: 201911231443.0 申请日: 2019-12-05
公开(公告)号: CN110927640A 公开(公告)日: 2020-03-27
发明(设计)人: 刘长宜;李潼;仲宏伟;周立明;李世超;赵宏伟 申请(专利权)人: 吉林大学
主分类号: G01R33/18 分类号: G01R33/18
代理公司: 吉林长春新纪元专利代理有限责任公司 22100 代理人: 王怡敏
地址: 130000 吉*** 国省代码: 吉林;22
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摘要: 发明涉及一种静动态力‑磁耦合材料性能测试仪器,属于精密科学仪器领域。包括力加载模块、磁场加载模块、霍尔探头、测量线圈、应变片等。力加载模块利用伺服电机和压电叠堆,为试样施加静动态载荷;磁场加载模块利用可变气隙电磁铁和亥姆霍兹线圈,提供平行或垂直于载荷方向的静动态磁场。通过力‑磁耦合测试能够获取材料在不同载荷和偏置磁场下的重要性能参数及曲线,包括弹性系数、压磁系数,磁滞回线、磁致伸缩曲线、应力‑应变曲线等。其优点在于:可以实现力‑磁耦合环境下材料重要物理性能的测试,对磁致伸缩材料的本构关系的研究有重要意义。
搜索关键词: 动态 耦合 材料 性能 测试 仪器
【主权项】:
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  • 王亚文;谷爱昱;严柏平;江伟 - 广东工业大学
  • 2017-05-05 - 2019-08-09 - G01R33/18
  • 本发明实施例公开了一种磁畴偏转模型建立方法及装置,用于解决原有的磁畴角度偏转模型能够较好描述载荷作用下材料的磁化特性,但模型对外在宏观特性的描述简单,求解过程复杂,且模型需要进行参数修正的技术问题。本发明实施例的一种磁畴偏转模型建立方法包括:S1:在预定的应力和磁场作用下,获取超磁致伸缩材料内单畴颗粒的预定的自由能公式;S2:通过预定的自由能公式获取预定的方向上的磁化强度公式;S3:对所述磁化强度公式分别进行对应力和磁场的偏导运算,获取对应的偏导函数;S4:将所述偏导函数代入预定的磁化密度增量公式中,获取预定的磁场增量值,获取磁化密度增量的计算结果。
  • 单电容磁致伸缩测量装置-201821765536.2
  • 郝立宇;谭明;杨铁;王啸天;谢宁;郝延明 - 西南大学
  • 2018-10-30 - 2019-07-19 - G01R33/18
  • 本实用新型涉及一种单电容磁致伸缩测量装置,该装置包括样品支架、电容器极板、电容器接线柱、仪器外壳、固定支撑、旋紧弹簧、电容器接线口、旋紧套管螺丝及样品腔室夹板。所述仪器外壳内一侧底部纵向设置固定支撑,对应其上部同心设有旋紧弹簧,两者之间平行设有样品支架,样品支架左右两侧对应设有样品腔室夹板和电容器极板;电容器极板上分别设有电容器接线柱;所述旋紧弹簧上部穿过仪器外壳,端头连接设有弹簧套管螺丝;对应样品支架一侧的仪器外壳呈敞开状,另一侧仪器外壳上部设有电容器接线口。该装置采用单一电容器与测试样品腔室同步,结构简化的同时进一步提高温度稳定性和抗干扰能力,操作简便,测量精度高,应用效果非常显著。
  • 一种磁致伸缩系数的测量系统及方法-201611104311.8
  • 侯瑞芬;林安利;贺建;张志高 - 中国计量科学研究院
  • 2016-12-05 - 2019-04-30 - G01R33/18
  • 本发明公开了一种磁致伸缩系数的测量系统及方法,该测量系统包括电磁铁极头、测量板及弹性体,相对的两个电磁铁极头之间依次贴靠固定被测样品、测量板、弹性体;两个电磁铁极头分别与各自对应的中心磁轭连接,中心磁轭外缠绕有电磁铁线包,两个中心磁轭之间通过外部磁轭连通;电磁铁线包连接励磁电源,被测样品旁固定有激光位移测量装置;该测量方法包括:向被测样品施加磁场,利用激光位移法测量被测样品在磁场作用下的长度变化,通过被测样品的长度变化计算被测样品的磁致伸缩系数。本发明能够实现无接触测量,解决目前磁致伸缩测量仪由人为因素带来的不确定性,大幅提高磁致伸缩材料的测量重复性、准确性。
  • 一种高精度大量程非接触式测量磁致应变的装置及方法-201610895945.3
  • 杨波;李宗宾;赵骧;左良 - 东北大学
  • 2016-10-14 - 2019-02-26 - G01R33/18
  • 一种高精度大量程非接触式测量磁致应变的装置及方法,所述装置包括:电磁铁底座、电磁铁固定支架、第一电磁铁、第二电磁铁、第一支撑杆、第二支撑杆、第一旋钮、第二旋钮、测量固定台、样品台、第一三轴位移台、第二三轴位移台、第一激光位移传感器、第二激光位移传感器、第一连接板、第二连接板和数据处理装置,在测量样品的应变时,将样品固定在样品台上,通过第一激光位移传感器和第二激光位移传感器射出的激光在样品表面产生的反射回路的变化来计算样品发生的应变量,该过程实现了对样品的非接触式测量,无需在样品的表面贴应变片,因此样品不会受到应变片最大变形量的限制,也避免了应变片阻碍样品的变形的问题,提高了测量的精度。
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