[发明专利]一种可追溯的QFN支架结构及设计方法在审

专利信息
申请号: 201911203498.0 申请日: 2019-11-29
公开(公告)号: CN110808239A 公开(公告)日: 2020-02-18
发明(设计)人: 金若虚 申请(专利权)人: 力成科技(苏州)有限公司
主分类号: H01L23/544 分类号: H01L23/544;H01L23/495
代理公司: 北京同恒源知识产权代理有限公司 11275 代理人: 阴知见
地址: 215000 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种可追溯的QFN支架结构及设计方法,其涉及QFN封装技术领域。旨在解决现有QFN支架没有标记,无法追踪单颗支架在整条支架上的位置,对于追溯不良品和研究不良发生原因,造成很大困难的问题。其技术方案要点包括支架条,所述支架条包括若干颗支架,所述支架上设置有蚀刻标记,且所述支架条上,每个所述支架上的所述蚀刻标记均不相同。本发明能够相互区分和显示单颗支架在整条支架上的位置,从而能够追溯不良品和研究不良发生原因,提升品质管理水准。
搜索关键词: 一种 追溯 qfn 支架 结构 设计 方法
【主权项】:
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