[发明专利]一种可追溯的QFN支架结构及设计方法在审
申请号: | 201911203498.0 | 申请日: | 2019-11-29 |
公开(公告)号: | CN110808239A | 公开(公告)日: | 2020-02-18 |
发明(设计)人: | 金若虚 | 申请(专利权)人: | 力成科技(苏州)有限公司 |
主分类号: | H01L23/544 | 分类号: | H01L23/544;H01L23/495 |
代理公司: | 北京同恒源知识产权代理有限公司 11275 | 代理人: | 阴知见 |
地址: | 215000 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种可追溯的QFN支架结构及设计方法,其涉及QFN封装技术领域。旨在解决现有QFN支架没有标记,无法追踪单颗支架在整条支架上的位置,对于追溯不良品和研究不良发生原因,造成很大困难的问题。其技术方案要点包括支架条,所述支架条包括若干颗支架,所述支架上设置有蚀刻标记,且所述支架条上,每个所述支架上的所述蚀刻标记均不相同。本发明能够相互区分和显示单颗支架在整条支架上的位置,从而能够追溯不良品和研究不良发生原因,提升品质管理水准。 | ||
搜索关键词: | 一种 追溯 qfn 支架 结构 设计 方法 | ||
【主权项】:
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