[发明专利]一种纹理表面缺陷检测方法及系统有效
| 申请号： | 201911197092.6 | 申请日： | 2019-11-29 |
| 公开（公告）号： | CN110969606B | 公开（公告）日： | 2023-08-08 |
| 发明（设计）人： | 杨华;尹周平;宋开友 | 申请（专利权）人： | 华中科技大学 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/40;G06N3/0455;G06N3/0464;G06N3/094;G06V10/46;G06V10/54;G06V10/80;G06V10/772 |
| 代理公司： | 华中科技大学专利中心 42201 | 代理人： | 尚威;李智 |
| 地址： | 430074 湖北*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明属于图像处理领域，公开了一种纹理表面缺陷检测方法及系统。该方法包括离线训练阶段及在线检测阶段，其中：离线训练阶段先通过先验提取步骤提取输入纹理图像的多通道纹理先验；再通过纹理重构步骤在提取的先验的引导下，精确重构出输入图像的纹理背景，在纹理重构模块的隐空间中编码更精确的纹理特征、抑制缺陷被重构在纹理背景中；最后，通过像素级对抗学习，进一步提升纹理重构精度。进行检测时，只需将输入图像与重构的纹理背景图像进行作差操作，即可检测出缺陷。本发明对不同纹理表面上的不同大小、不同对比度的缺陷有较高的检测精度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 纹理 表面 缺陷 检测 方法 系统 | ||
【主权项】：
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