[发明专利]使用绝热射频脉冲测量射频B1场分布的磁共振成像方法有效
| 申请号： | 201911151143.1 | 申请日： | 2019-11-21 |
| 公开（公告）号： | CN110780249B | 公开（公告）日： | 2020-08-11 |
| 发明（设计）人： | 周欣;袁亚平;郭茜旎;孙献平;叶朝辉 | 申请（专利权）人： | 中国科学院武汉物理与数学研究所 |
| 主分类号： | G01R33/46 | 分类号： | G01R33/46;G01R33/483;G01R33/54 |
| 代理公司： | 武汉宇晨专利事务所 42001 | 代理人： | 李鹏;王敏锋 |
| 地址： | 430071 湖*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： |
本发明公开了使用绝热射频脉冲测量射频B1场分布的磁共振成像方法，包括以下步骤，设计绝热脉冲，设置频率偏置以及绝热脉冲时间；计算绝热脉冲的K值；不施加绝热脉冲采样获得初始磁化矢量大小；分别施加频率偏置为△ω |
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| 搜索关键词： | 使用 绝热 射频 脉冲 测量 b1 分布 磁共振 成像 方法 | ||
【主权项】：
1.使用绝热射频脉冲测量射频B1场分布的磁共振成像方法，其特征在于，包括以下步骤：/n步骤1，设计绝热脉冲，绝热脉冲的起始强度为零，绝热脉冲逐渐增加到最大强度B
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