[发明专利]使用绝热射频脉冲测量射频B1场分布的磁共振成像方法

权利要求书

1.使用绝热射频脉冲测量射频B1场分布的磁共振成像方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤1，设计绝热脉冲，绝热脉冲的起始强度为零，绝热脉冲逐渐增加到最大强度B_1max，设置频率偏置△ω_rf以及绝热脉冲时间；

步骤2，计算绝热脉冲的K值，K＝γ|B_eff|/|dθ/dt|，B_eff表征B_eff场的强度，γ为原子核的旋磁比，θ为B_eff场与主磁场方向的夹角，B_eff场为有效B1场；

步骤3，不施加绝热脉冲或将绝热脉冲的最大强度B_1max设为零，采样获得初始磁化矢量大小M₀；

步骤4，施加频率偏置为△ω_rf的绝热脉冲以及损毁梯度，采样获得磁化矢量大小M_z1；

步骤5，施加频率偏置为-△ω_rf的绝热脉冲以及损毁梯度，采样获得磁化矢量大小M_z2；

步骤6，利用以下公式计算B_1,obs，

其中，M₀为初始磁化矢量，

步骤7、根据△ω²/(△ω_rf²-△ω²)来计算由于B0场偏移给B1测量带来的偏差，△ω为B0场偏移的大小，B_1,obs为计算的B1场的值。

2.根据权利要求1所述的使用绝热射频脉冲测量射频B1场分布的磁共振成像方法，其特征在于，频率偏置△ω_rf大于B0场偏移的大小△ω。