[发明专利]基于单色X射线衍射的标定装置有效
| 申请号： | 201910884267.4 | 申请日： | 2019-09-19 |
| 公开（公告）号： | CN110596162B | 公开（公告）日： | 2021-02-26 |
| 发明（设计）人： | 陈凯;朱文欣;寇嘉伟;沈昊 | 申请（专利权）人： | 西安交通大学 |
| 主分类号： | G01N23/2005 | 分类号： | G01N23/2005 |
| 代理公司： | 北京中济纬天专利代理有限公司 11429 | 代理人： | 覃婧婵 |
| 地址： | 710049 *** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于单色X射线衍射的单晶/定向晶标定装置，其中，基材包括上表面和下表面；黏结层配置成将标定装置固定到X射线衍射的样品表面上，所述黏结层设在所述下表面；多晶粉末层设在所述上表面，所述多晶粉末层的厚度小于X射线对多晶粉末的穿透深度的五分之一使得来自样品表面的第一衍射信号和来自多晶粉末的第二衍射信号同时被采集。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 单色 射线 衍射 标定 装置 | ||
【主权项】：
1.一种基于单色X射线衍射的标定装置，其包括，/n基材，其包括上表面和下表面；/n黏结层，配置成将标定装置固定到X射线衍射的样品表面上，所述黏结层设在所述下表面；/n多晶粉末层，其设在所述上表面，所述多晶粉末层的厚度小于X射线对多晶粉末的穿透深度的五分之一使得来自样品表面的第一衍射信号和来自多晶粉末的第二衍射信号同时被采集。/n
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