[发明专利]半导体装置、半导体装置的诊断方法以及记录介质在审
| 申请号： | 201910782954.5 | 申请日： | 2019-08-23 |
| 公开（公告）号： | CN111722094A | 公开（公告）日： | 2020-09-29 |
| 发明（设计）人： | 立川知弘 | 申请（专利权）人： | 株式会社东芝;东芝电子元件及存储装置株式会社 |
| 主分类号： | G01R31/316 | 分类号： | G01R31/316;G01R31/3177 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人： | 牛玉婷 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明的实施方式涉及半导体装置、半导体装置的诊断方法以及记录有半导体装置的诊断程序的计算机可读取的非暂时性的记录介质。实施方式的半导体装置具有主电路、监视电路、比较器、以及DFT控制电路。监视电路具有与主电路相同的电路构成。比较器对主电路的输出与所述监视电路的输出进行比较。DFT控制电路将设于主电路的多个触发器的值中的至少一个触发器的值反转，并经由扫描链将反转后的值设定于至少一个触发器。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体 装置 诊断 方法 以及 记录 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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