[发明专利]半导体装置、半导体装置的诊断方法以及记录介质

说明书

本发明的实施方式涉及半导体装置、半导体装置的诊断方法以及记录有半导体装置的诊断程序的计算机可读取的非暂时性的记录介质。实施方式的半导体装置具有主电路、监视电路、比较器、以及DFT控制电路。监视电路具有与主电路相同的电路构成。比较器对主电路的输出与所述监视电路的输出进行比较。DFT控制电路将设于主电路的多个触发器的值中的至少一个触发器的值反转，并经由扫描链将反转后的值设定于至少一个触发器。

相关申请

本申请享有以日本专利申请2019－53649号(申请日：2019年3月20日)为基础申请的优先权。本申请通过参照该基础申请而包含基础申请的全部内容。

技术领域

本发明的实施方式涉及半导体装置、半导体装置的诊断方法以及记录有半导体装置的诊断程序的计算机可读取的非暂时性的记录介质。

背景技术

以汽车的功能安全标准为目的，搭载故障检测电路的半导体装置的需求正在增加。搭载有这种半导体装置的系统具备检测故障的硬件、以及根据检测到的故障的种类等执行各种处理的软件。

其中，通常，如果半导体装置不实际发生故障，则无法验证这些硬件以及软件是否正常地发挥作用。因此，难以诊断作为半导体装置的功能安全机构的硬件以及软件是否正常地动作。

因此，已知有使半导体装置强制地发生模拟故障，并诊断是否能够将模拟故障检测为故障的方法。作为向半导体装置导入模拟故障来进行功能安全机构的诊断的方法，存在设置包含测试点用触发器在内的多个测试点并导入模拟故障的方法。

然而，已知能够在测试点激活的电路为整体的一部分(具体为，电路整体的2％左右)。因此，从测试点导入模拟故障的方法存在仅能够使限定的电路部分发生模拟故障的问题。

发明内容

实施方式提供一种能够不追加新的电路而实施基于对逻辑电路的模拟故障的导入的诊断的半导体装置、半导体装置的诊断方法以及记录有半导体装置的诊断程序的计算机可读取的非暂时性的记录介质。

实施方式的半导体装置具有主电路、监视电路、比较器、以及DFT控制电路。监视电路具有与主电路相同的电路构成。比较器对主电路的输出与所述监视电路的输出进行比较。DFT控制电路使设于主电路的多个触发器的值中的至少一个触发器的值反转，并经由扫描链将反转后的值设定于至少一个触发器。

附图说明

图1是表示一实施方式的半导体装置的构成的一个例子的框图。

图2是表示故障检测电路模块的详细的内部构成的一个例子的框图。

图3A是表示模拟故障导入前的RAM的值的一个例子的图。

图3B是表示模拟故障导入后的RAM的值的一个例子的图。

图4是表示基于模拟故障的故障检测诊断处理的流程的一个例子的流程图。

具体实施方式

以下，参照附图对实施方式进行详细说明。

首先，基于图1对一实施方式的半导体装置的构成进行说明。

图1是表示一实施方式的半导体装置的构成的一个例子的框图。

本实施方式的半导体装置1构成为，具有中央处理装置(以下，称为CPU)11、RAM12、ROM13、时钟控制电路14、DFT(Design For Test：可测试性设计)控制电路15、故障检测电路模块16、以及总线17。CPU11、RMA12、ROM13、时钟控制电路14、DFT控制电路15、以及故障检测电路模块16经由总线17而相互连接。