[发明专利]半导体装置、半导体装置的诊断方法以及记录介质

权利要求书

1.一种半导体装置，具有：

主电路；

监视电路，具有与所述主电路相同的电路构成；

比较器，对所述主电路的输出与所述监视电路的输出进行比较；以及

DFT控制电路，使设于所述主电路的多个触发器的值中的至少一个触发器的值反转，并经由扫描链将反转后的值设定于所述至少一个触发器。

2.根据权利要求1所述的半导体装置，其中，

所述DFT控制电路经由所述扫描链将所述多个触发器的值扫描输出并存储于存储部，

还具有控制电路，该控制电路将存储于所述存储部的所述多个触发器的值中的至少一个值反转并存储于所述存储部，

所述DFT控制电路将通过所述控制电路存储于所述存储部的值经由所述扫描链进行扫描输入并设定于所述多个触发器。

3.根据权利要求2所述的半导体装置，其中，

所述控制电路基于存储于所述存储部的模拟故障信息，将所述至少一个值反转。

4.根据权利要求3所述的半导体装置，其中，

所述模拟故障信息是表示所述多个触发器中的导入模拟故障的触发器的位置的信息。

5.根据权利要求1所述的半导体装置，其中，

所述半导体装置具有时钟控制电路，该时钟控制电路控制通常时钟向所述主电路的供给和所述通常时钟的供给的停止。

6.根据权利要求1所述的半导体装置，其中，

所述半导体装置具有屏蔽电路，该屏蔽电路屏蔽所述主电路的输出。

7.一种半导体装置的诊断方法，该半导体装置具有：主电路，具有希望的电路构成；监视电路，具有与所述主电路相同的电路构成；以及比较器，对所述主电路的输出与所述监视电路的输出进行比较，其中，

将设于所述主电路的多个触发器的值中的至少一个触发器的值反转，经由扫描链将反转后的值设定于所述至少一个触发器。

8.根据权利要求7所述的半导体装置的诊断方法，其中，

经由所述扫描链将所述多个触发器的值扫描输出并存储于存储部，

将存储于所述存储部的所述多个触发器的值中的至少一个值反转并存储于所述存储部，

经由所述扫描链将存储于所述存储部的值扫描输入，并设定于所述多个触发器。

9.一种记录有半导体装置的诊断程序的计算机可读取的非暂时性的记录介质，其中，所述诊断程序具有如下步骤：

将设于主电路的多个触发器的值中的至少一个触发器的值反转，并经由扫描链将反转后值设定于所述至少一个触发器。

10.根据权利要求9所述的记录有半导体装置的诊断程序的计算机可读取的非暂时性的记录介质，其中，所述诊断程序具有如下步骤：

经由所述扫描链将所述多个触发器的值扫描输出并存储于存储部；

将存储于所述存储部的所述多个触发器的值中的至少一个值反转并存储于所述存储部；以及

经由所述扫描链将存储于所述存储部的值扫描输入，并设定于所述多个触发器。