[发明专利]一种高增益高功率变压合成功率放大器在审
| 申请号： | 201910726741.0 | 申请日： | 2019-08-07 |
| 公开（公告）号： | CN110299894A | 公开（公告）日： | 2019-10-01 |
| 发明（设计）人： | 林倩;刘林盛;邬海峰;胡单辉;张晓明 | 申请（专利权）人： | 青海民族大学;成都多普勒科技有限公司 |
| 主分类号： | H03F1/34 | 分类号： | H03F1/34;H03F3/20;H03F3/24;H03F3/45;H03F3/68 |
| 代理公司： | 成都创新引擎知识产权代理有限公司 51249 | 代理人： | 罗丽 |
| 地址： | 810007 *** | 国省代码： | 青海;63 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种高增益高功率变压合成功率放大器，包括输入功率分配匹配网络、第一双级反馈放大网络、第二双级反馈放大网络、第三双级反馈放大网络、第四双级反馈放大网络以及输出四路功率合成匹配网络，本发明核心架构采用第一双级反馈放大网络、第二双级反馈放大网络、第三双级反馈放大网络、第四双级反馈放大网络，利用差分放大器在微波频段的良好的寄生参数抑制性，同时利用双级反馈放大器在微波段的高功率、高增益特性，与分布式变压器网络良好的功率合成特性相结合，使得整个功率放大器获得了良好的高增益、高效率和高功率输出能力。 | ||
| 搜索关键词： | 双级 放大 反馈 网络 高增益 高功率 合成功率放大器 匹配网络 变压 四路功率合成 差分放大器 反馈放大器 高功率输出 功率放大器 功率合成 核心架构 寄生参数 输入功率 微波频段 高效率 抑制性 变压器 微波 输出 分配 | ||
【主权项】：
1.一种高增益高功率变压合成功率放大器，其特征在于，包括输入功率分配匹配网络、第一双级反馈放大网络、第二双级反馈放大网络、第三双级反馈放大网络、第四双级反馈放大网络以及输出四路功率合成匹配网络；所述输入功率分配匹配网络的输入端为整个所述功率放大器的输入端，其第一输出端与所述第一双级反馈放大网络的输入端连接，其第二输出端与所述第四双级反馈放大网络的输入端连接，其第三输出端与所述第二双级反馈放大网络的输入端连接，其第四输出端与所述第三双级反馈放大网络的输入端连接；所述第一双级反馈放大网络的输出端与所述输出四路功率合成匹配网络的第一输入端连接；所述第二双级反馈放大网络的输出端与所述输出四路功率合成匹配网络的第三输入端连接；所述第三双级反馈放大网络的输出端与所述输出四路功率合成匹配网络的第四输入端连接；所述第四双级反馈放大网络的输出端与所述输出四路功率合成匹配网络的第二输入端连接；所述输出四路功率合成匹配网络的输出端为整个所述功率放大器的输出端。
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- 本实用新型涉及电路的技术领域，更具体地，涉及一种微弱电压放大电路。一种微弱电压放大电路，其中，包括电阻R1、电阻R2、电阻R3、电阻R4、电容C1、电容C2、电容C3、电容C4、电容C5、电压放大器；电压输入上半部分经电阻R1与电容C1、电容C2、电压放大器相连，电压放大器与电源正端与电容C4并联电容C5后接地，电压输入下半部分经电阻R2与电容C2、电容C3、电压放大器相连，电容C1、电容C3与地相连；电阻R3与电压放大器相连，电压放大器与电阻R4后接地。本实用新型使输入电压的放大更稳定、更准确、不易失真饱和、灵敏度更高，抗干扰能力更强。
- 一种基于负反馈的功率放大器结构-201510219482.4
- 刘昱;萧延彬;李志强;张海英 - 中国科学院微电子研究所
- 2015-04-30 - 2018-09-04 - H03F1/34
- 本发明公开了一种基于负反馈的功率放大器结构，该功率放大器结构是在功率放大器的输出端与电源端之间增加依次连接的输出信号包络检波器、衰减器和包络放大器，使功率放大器、输出信号包络检波器、衰减器和包络放大器构成反馈环；该包络放大器通过比较功率放大器射频输入信号的包络以及功率放大器射频输出信号的包络，动态地调节功率放大器的电源电压，从而既能够实现功率放大器增益恒定，又大大提高了功率放大器在输出调制信号下的效率。
- 运算放大电路以及放大电路的测试设备-201721183440.0
- 罗国发 - 深圳和而泰智能控制股份有限公司
- 2017-09-14 - 2018-08-03 - H03F1/34
- 本实用新型公开一种运算放大电路以及放大电路的测试设备。所述放大电路的测试设备用于测试第一放大电路的功能，所述第一放大电路包括运算放大器和反馈电路；所述放大电路的测试设备包括控制器、放大倍数衰减电路及连接于所述放大倍数衰减电路两端的接头。本实用新型技术方案通过设置放大倍数衰减电路，并通过使所述放大倍数衰减电路并联于第一放大电路的反馈电路的两端，以形成第二放大电路，由于第二放大电路的放大倍数低于第一放大电路的放大倍数，进而能够在满足MCU检测量程的前提下，使得MCU不需要输出过小幅值的测试信号，就能够满足测试要求，进而能够实现利用MCU对高倍放大电路进行自动化测试的目的。
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