[发明专利]一种超快阻变存储器及其阻态控制方法在审

专利信息
申请号: 201910689807.3 申请日: 2019-07-29
公开(公告)号: CN110416404A 公开(公告)日: 2019-11-05
发明(设计)人: 陈志伟;马超;殷月伟;李晓光 申请(专利权)人: 中国科学技术大学
主分类号: H01L43/08 分类号: H01L43/08;H01L43/10;H01L43/02;H01L43/12
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 张雪娇
地址: 230026 安*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明实施例公开了一种超快阻变存储器及其阻态控制方法,其中,超快阻变存储器的阻变介质层为过渡金属氧化物介质层,通过对阻变存储器施加电激励,可调控阻变介质层中的氧空位,导致过渡金属元素价态变化,使得超快阻变存储器呈现出不同的电阻状态,进而提高超快阻变存储器的存储密度。另外,通过实验分析发现,超快阻变存储器的高低阻态转换时间可以快至亚纳秒量级,且在高温条件下也有很好的适用性。进一步的,超快阻变存储器的基底为导电硅基底,在承担基底的功能的基础上,还作为超快阻变存储器的底电极存在,可以与传统硅基工艺相兼容。
搜索关键词: 阻变存储器 基底 阻态 阻变介质层 过渡金属氧化物 过渡金属元素 亚纳秒量级 电阻状态 高温条件 硅基工艺 价态变化 实验分析 导电硅 底电极 电激励 介质层 可调控 氧空位 存储 兼容 施加 转换 发现
【主权项】:
1.一种超快阻变存储器,其特征在于,包括:导电基底;位于所述导电基底表面的阻变介质层,所述阻变介质层为过渡金属氧化物介质层;位于所述阻变介质层背离所述导电基底一侧的顶电极。
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