[发明专利]一种超快阻变存储器及其阻态控制方法在审
申请号: | 201910689807.3 | 申请日: | 2019-07-29 |
公开(公告)号: | CN110416404A | 公开(公告)日: | 2019-11-05 |
发明(设计)人: | 陈志伟;马超;殷月伟;李晓光 | 申请(专利权)人: | 中国科学技术大学 |
主分类号: | H01L43/08 | 分类号: | H01L43/08;H01L43/10;H01L43/02;H01L43/12 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 张雪娇 |
地址: | 230026 安*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | 本发明实施例公开了一种超快阻变存储器及其阻态控制方法,其中,超快阻变存储器的阻变介质层为过渡金属氧化物介质层,通过对阻变存储器施加电激励,可调控阻变介质层中的氧空位,导致过渡金属元素价态变化,使得超快阻变存储器呈现出不同的电阻状态,进而提高超快阻变存储器的存储密度。另外,通过实验分析发现,超快阻变存储器的高低阻态转换时间可以快至亚纳秒量级,且在高温条件下也有很好的适用性。进一步的,超快阻变存储器的基底为导电硅基底,在承担基底的功能的基础上,还作为超快阻变存储器的底电极存在,可以与传统硅基工艺相兼容。 | ||
搜索关键词: | 阻变存储器 基底 阻态 阻变介质层 过渡金属氧化物 过渡金属元素 亚纳秒量级 电阻状态 高温条件 硅基工艺 价态变化 实验分析 导电硅 底电极 电激励 介质层 可调控 氧空位 存储 兼容 施加 转换 发现 | ||
【主权项】:
1.一种超快阻变存储器,其特征在于,包括:导电基底;位于所述导电基底表面的阻变介质层,所述阻变介质层为过渡金属氧化物介质层;位于所述阻变介质层背离所述导电基底一侧的顶电极。
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