[发明专利]电压检测电路、半导体装置以及半导体装置的制造方法有效
| 申请号： | 201910669914.X | 申请日： | 2019-07-24 |
| 公开（公告）号： | CN110850312B | 公开（公告）日： | 2023-10-20 |
| 发明（设计）人： | 金泽雄亮 | 申请（专利权）人： | 艾普凌科有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/388 | 分类号： | G01R31/388;G01R31/36 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人： | 马建军;邓毅 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 提供电压检测电路、半导体装置以及半导体装置的制造方法，减少制造工序中的可变电阻部的电阻值的调整时间。电压检测电路具有：电阻分压电路，其具有粗调整用可变电阻电路和微调整用可变电阻电路；粗调整部，其对粗调整用可变电阻电路进行控制；微调整部，其对微调整用可变电阻电路进行控制；以及控制部，其与比较电路的检测信号相对应地对粗调整部和微调整部进行控制。 | ||
| 搜索关键词： | 电压 检测 电路 半导体 装置 以及 制造 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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