[发明专利]顶浮栅范德华异质结器件及其制备方法、光电存储器件在审

专利信息
申请号: 201910408844.2 申请日: 2019-05-16
公开(公告)号: CN110323223A 公开(公告)日: 2019-10-11
发明(设计)人: 何军;黄文浩;尹蕾 申请(专利权)人: 国家纳米科学中心
主分类号: H01L27/105 分类号: H01L27/105;H01L21/8239;G11C11/42;B82Y40/00
代理公司: 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 代理人: 王庆龙;李相雨
地址: 100190 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明实施例提供的顶浮栅范德华异质结器件及其制备方法、光电存储器件,包括依次堆叠在二硫化钼底电极器件上的六方氮化硼纳米片和石墨烯纳米片,堆叠后的所述二硫化钼底电极器件、所述六方氮化硼纳米片和所述石墨烯纳米片在垂直方向上有完全重叠的区域。大幅度提高了器件的性能,应用到非易失性多比特光电存储器件具有大存储窗口,高开关比,低暗电流,快速光响应,极好的稳定性以及多比特存储性能。
搜索关键词: 光电存储器件 石墨烯纳米片 六方氮化硼 异质结器件 二硫化钼 底电极 纳米片 堆叠 浮栅 制备 多比特存储 存储窗口 非易失性 暗电流 光响应 开关比 应用
【主权项】:
1.顶浮栅范德华异质结器件,其特征在于,包括依次堆叠在二硫化钼底电极器件上的六方氮化硼纳米片和石墨烯纳米片,堆叠后的所述二硫化钼底电极器件、所述六方氮化硼纳米片和所述石墨烯纳米片在垂直方向上有完全重叠的区域。
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