[发明专利]半导体装置及半导体装置的制造方法在审

专利信息
申请号: 201910299348.8 申请日: 2019-04-15
公开(公告)号: CN110767657A 公开(公告)日: 2020-02-07
发明(设计)人: 李振元;李南宰 申请(专利权)人: 爱思开海力士有限公司
主分类号: H01L27/11563 分类号: H01L27/11563;H01L27/11568;H01L27/11578
代理公司: 11127 北京三友知识产权代理有限公司 代理人: 刘久亮;黄纶伟
地址: 韩国*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要: 半导体装置及半导体装置的制造方法。该半导体装置包括:被第一穿透部穿透的源极结构;设置在源极结构上并被与第一穿透部交叠的第二穿透部穿透的第一层叠结构。
搜索关键词: 半导体装置 穿透 源极结构 穿透的 层叠结构 交叠 制造
【主权项】:
1.一种半导体装置,该半导体装置包括:/n源极结构,所述源极结构被第一穿透部穿透;/n第一层叠结构,所述第一层叠结构设置在所述源极结构上并被与所述第一穿透部交叠的第二穿透部穿透;/n第二层叠结构,所述第二层叠结构设置在所述第一层叠结构上并延伸以与所述第一穿透部和所述第二穿透部交叠;以及/n沟道柱,所述沟道柱穿过所述第二层叠结构和所述第一层叠结构。/n
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