[发明专利]垂直金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFET)及其形成的方法在审
申请号: | 201880022603.8 | 申请日: | 2018-05-08 |
公开(公告)号: | CN110574168A | 公开(公告)日: | 2019-12-13 |
发明(设计)人: | 拉尔斯-埃里克·维纳森;奥利-佩卡·基尔皮 | 申请(专利权)人: | C2安培有限公司 |
主分类号: | H01L29/423 | 分类号: | H01L29/423;H01L21/336;H01L29/775;H01L29/06 |
代理公司: | 11021 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 王新华;赵金强 |
地址: | 瑞典*** | 国省代码: | 瑞典;SE |
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摘要: | 提出了一种垂直金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFET)以及一种形成垂直MOSFET的方法。该MOSFET包括:顶部接触部;底部接触部;纳米线(602),该纳米线在该顶部接触部与该底部接触部之间形成电荷传输通道;以及包围该纳米线(602)圆周的包绕式栅极(650),该包绕式栅极(650)具有在该纳米线(602)的纵向方向上跨越该纳米线(602)的一部分的延伸部,其中,该包绕式栅极(650)包括栅极部分(614)以及用于控制该电荷传输通道中的电荷传输的场板部分(616),并且其中,该场板部分(616)布置在距该纳米线(602)的中心的第一径向距离(636)处,并且该栅极部分(614)布置在距该纳米线(602)的中心的第二径向距离(634)处;其特征在于,该第一径向距离(636)大于该第二径向距离(634)。 | ||
搜索关键词: | 纳米线 径向距离 包绕 电荷传输通道 场板 场效应晶体管 氧化物半导体 垂直金属 电荷传输 延伸部 垂直 包围 | ||
【主权项】:
1.一种垂直金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFET),包括:/n顶部接触部;/n底部接触部;/n纳米线(602),该纳米线在该顶部接触部与该底部接触部之间形成电荷传输通道;以及/n包围该纳米线(602)圆周的包绕式栅极(650),该包绕式栅极(650)具有在该纳米线(602)的纵向方向上跨越该纳米线(602)的一部分的延伸部,其中,该包绕式栅极(650)包括栅极部分(614)以及用于控制该电荷传输通道中的电荷传输的场板部分(616),并且其中,该场板部分(616)布置在距该纳米线(602)的中心的第一径向距离(636)处,并且该栅极部分(614)布置在距该纳米线(602)的中心的第二径向距离(634)处;/n其特征在于,该第一径向距离(636)大于该第二径向距离(634)。/n
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