[发明专利]双面电容器及其制作方法有效

专利信息
申请号: 201880001021.1 申请日: 2018-08-08
公开(公告)号: CN111615750B 公开(公告)日: 2023-06-23
发明(设计)人: 陆斌;沈健 申请(专利权)人: 深圳市为通博科技有限责任公司
主分类号: H01L29/00 分类号: H01L29/00;H01L29/41;H01L29/94
代理公司: 北京龙双利达知识产权代理有限公司 11329 代理人: 韩狄;毛威
地址: 518052 广东省深圳市南山区南头*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 本申请实施例涉及双面电容器及其制造方法。该双面电容器包括:在SOI衬底的两个表面刻蚀深度未到达中间绝缘层的沟槽(105,106)以及深度超过中间绝缘层的沟槽结构(107,108);在沟槽(105,106)以及沟槽(107,108)表面依次沉积绝缘电介质薄膜和导电材料,其中,需要去除沟槽(107,108)底部绝缘材料,在沟槽(107,108)中填充导电材料成为导电通道。SOI衬底的上层导电通道与上层绝缘且与下层导通;下层导电通道与下层绝缘且与上层导通。因此,本申请实施例的双面电容器不仅避免了刻蚀贯穿衬底的沟槽,使得整个结构机械强度更好,而且利用了SOI晶圆本身的衬底电容,从而电容更大。
搜索关键词: 双面 电容器 及其 制作方法
【主权项】:
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