[实用新型]用于芯片老化测试设备的释放吸头有效
| 申请号： | 201821835220.6 | 申请日： | 2018-11-08 |
| 公开（公告）号： | CN209364648U | 公开（公告）日： | 2019-09-10 |
| 发明（设计）人： | 曾令强;周宣名 | 申请（专利权）人： | 英特尔产品（成都）有限公司;英特尔公司 |
| 主分类号： | B25J15/06 | 分类号： | B25J15/06 |
| 代理公司： | 北京永新同创知识产权代理有限公司 11376 | 代理人： | 钟胜光 |
| 地址： | 611731 四川省成*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种用于芯片老化测试设备的释放吸头，涉及低成本老化测试设备技术领域。本实用新型包括机械手臂，所述机械手臂的端部固定有螺纹连接盖，所述机械手臂上设置有负压通道，所述负压通道连接在螺纹连接盖内；还包括吸头基垫，所述吸头基垫包括用于与机械手臂的螺纹连接盖螺纹连接的连接部和用于吸取芯片的吸头部；本申请的机械手快速释放吸头有助于减少每次更换所需的时间，同时也避免整体更换机械手臂而造成的成本增加问题。 | ||
| 搜索关键词： | 机械手臂 吸头 螺纹连接 本实用新型 测试设备 负压通道 芯片老化 基垫 老化测试设备 机械手 快速释放 整体更换 释放 低成本 芯片 申请 | ||
【主权项】：
1.一种用于芯片老化测试设备的释放吸头，其特征在于：包括机械手臂(1)，所述机械手臂(1)的端部安装有螺纹连接盖(2)，所述机械手臂(1)上设置有负压通道，所述负压通道连接在螺纹连接盖(2)内；还包括吸头基垫(3)，所述吸头基垫(3)包括用于与机械手臂(1)的螺纹连接盖(2)螺纹连接的连接部(4)和用于吸取芯片的吸头部(5)；所述吸头基垫(3)上设置有负压孔(6)，所述负压孔(6)与螺纹连接盖(2)内的负压通道相对应；所述负压孔(6)贯穿吸头基垫(3)的连接部(4)和吸头部(5)，所述吸头基垫(3)的吸头部(5)上设置有泡沫基垫，所述泡沫基垫中空，泡沫基垫固定连接在吸头基垫(3)的吸头部(5)上，泡沫基垫的中空形成的空腔与吸头基垫(3)的负压孔(6)相连通，形成负压腔。
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