[实用新型]便携式常用芯片检测仪

摘要

本实用新型公开了一种便携式常用芯片检测仪，其包括微处理器IAP15F2K61S2，数字芯片检测模块，模拟芯片检测模块，时基芯片检测模块，三端稳压芯片检测模块，显示模块，检测运行模块，报警提醒模块和电源模块。微处理器IAP15F2K61S2通过控制检测与数字芯片检测模块连接的IO口，根据其芯片的真值表来判断芯片好坏；通过与模拟芯片检测模块和三端稳压芯片检测模块连接的IO口电平大小来判断芯片好坏；通过对时基芯片检测模块输出信号频率来检测芯片好坏；通过程序中IO口高低电平变化的相对映射来实现对反插芯片的检测，并及时提醒使用者，防止装置被损坏，提高了检测仪的可靠性和安全性；微处理器IO口均可编程，使后期增加芯片种类变得方便，增加了其扩展性。

主权项

1.一种便携式常用芯片检测仪，其特征在于包括微处理器IAP15F2K61S2(1)、电源模块(2)、显示模块(3)、数字芯片检测模块(4)、模拟芯片检测模块(5)、时基芯片检测模块(6)、三端稳压芯片模块(7)、报警提醒模块(8)和检测运行模块(9)，其特征在于所述的电源模块(2)、显示模块(3)、数字芯片检测模块(4)、模拟芯片检测模块(5)、时基芯片检测模块(6)、三端稳压芯片模块(7)、报警提醒模块(8)和检测运行模块(9)与微处理器IAP15F2K61S2(1)连接，所述的电源模块(2)给微处理器IAP15F2K61S2(1)、电源模块(2)、显示模块(3)、数字芯片检测模块(4)、模拟芯片检测模块(5)、时基芯片检测模块(6)、三端稳压芯片模块(7)、报警提醒模块(8)和检测运行模块(9)提供工作电源。