[实用新型]便携式常用芯片检测仪

说明书

本实用新型公开了一种便携式常用芯片检测仪，其包括微处理器IAP15F2K61S2，数字芯片检测模块，模拟芯片检测模块，时基芯片检测模块，三端稳压芯片检测模块，显示模块，检测运行模块，报警提醒模块和电源模块。微处理器IAP15F2K61S2通过控制检测与数字芯片检测模块连接的IO口，根据其芯片的真值表来判断芯片好坏；通过与模拟芯片检测模块和三端稳压芯片检测模块连接的IO口电平大小来判断芯片好坏；通过对时基芯片检测模块输出信号频率来检测芯片好坏；通过程序中IO口高低电平变化的相对映射来实现对反插芯片的检测，并及时提醒使用者，防止装置被损坏，提高了检测仪的可靠性和安全性；微处理器IO口均可编程，使后期增加芯片种类变得方便，增加了其扩展性。

技术领域

本实用新型涉及芯片检测领域，尤其涉及一种便携式常用芯片检测仪。

背景技术

在模电类和数电类实验室中，经常需要使用数字芯片和模拟芯片进行实验或设计，实验中经常会出现芯片型号字体模糊无法识别或不能正常使用的情况，因此，需要一台便携式常用芯片检测仪实现芯片型号识别和质量测试。目前，市场上现存的集成芯片测试仪，可以完成芯片的识别和测试，但是普遍存在体积大、不方便携带，成本高，价格昂贵等缺点。

鉴于上述缺陷，设计了一种新型的便携式常用芯片检测仪，降低成本，并提高实验效率和芯片利用率。

发明内容

本实用新型的目的在于提供一种便携式常用芯片检测仪，用以克服上述技术缺陷。

为实现上述目的，本实用新型提供一种便携式常用芯片检测仪，其包括微处理器IAP15F2K61S2，以及数字芯片检测模块、模拟芯片检测模块、时基芯片检测模块、三端稳压芯片模块，显示模块，检测运行模块，报警提醒模块和能产生多种电压的电源模块。

所述的显示模块，由LCD1602组成，来显示开机初始界面，芯片检测情况和对未知芯片的型号检测，同时能够提醒芯片是否插反，及时矫正。

所述的检测运行模块，用来运行常用芯片检测仪的程序，实现检测仪的功能。

所述的电源模块，用来产生GND(0V),+5V,+12V,+18V,-12V,-18V等多种电压，供给微处理器，芯片检测模块，显示模块等。

所述的芯片检测模块，分为数字芯片检测模块、模拟芯片检测模块、时基芯片检测模块、三端稳压芯片模块，由多个16P锁紧座与微处理器IAP15F2K61S2连接，用来放置待测芯片，放置好芯片后，按下锁紧座的杆，再按一下检测运行模块，然后会在显示模块显示检测结果，本检测仪能检测16脚及以下的实验室常用数字芯片，常见的模拟芯片、常见的时基芯片和常见的三端稳压芯片，能够检测的芯片有74HC/LS00、74HC/LS04、74HC/LS20、74HC/LS54、 74HC/LS74、74HC/LS76、74HC/LS86、74HC/LS138、74HC/LS151、74HC/LS153、74HC/LS161、 74HC/LS192、74HC/LS194、CD4511、CD4001、CD40106、LM324、OP07、UA741、NE555、7905、 7912、7915、7805、7812、7815。

本实用新型的有益效果：

1.可靠性高：支持待测芯片反插测试，并且在显示模块上有所提示，防止检测装置被损坏。

2.扩展性好：所述的微处理器为IAP15F2K61S2，拥有大容量的ROM和RAM，内置ADC、定时器等模块，所有的输入输出口都可以编程，可以增加更多型号的芯片的检测能力。

3.提示方式多：除了LCD显示，还有不同声音的提示。

附图说明

图1为本实用新型一种便携式常用芯片检测仪的总体结构示意图。