[实用新型]便携式常用芯片检测仪

权利要求书

1.一种便携式常用芯片检测仪，其特征在于包括微处理器IAP15F2K61S2(1)、电源模块(2)、显示模块(3)、数字芯片检测模块(4)、模拟芯片检测模块(5)、时基芯片检测模块(6)、三端稳压芯片模块(7)、报警提醒模块(8)和检测运行模块(9)，其特征在于所述的电源模块(2)、显示模块(3)、数字芯片检测模块(4)、模拟芯片检测模块(5)、时基芯片检测模块(6)、三端稳压芯片模块(7)、报警提醒模块(8)和检测运行模块(9)与微处理器IAP15F2K61S2(1)连接，所述的电源模块(2)给微处理器IAP15F2K61S2(1)、电源模块(2)、显示模块(3)、数字芯片检测模块(4)、模拟芯片检测模块(5)、时基芯片检测模块(6)、三端稳压芯片模块(7)、报警提醒模块(8)和检测运行模块(9)提供工作电源。

2.根据权利要求1所述的便携式常用芯片检测仪，其特征在于所述的微处理器IAP15F2K61S2(1)通过内部算法生成一系列电平变化加载在数字芯片检测模块(4)、模拟芯片检测模块(5)、时基芯片检测模块(6)、三端稳压芯片模块(7)上；所述的数字芯片检测模块(4)包括:电阻R1，电阻R2，电阻R3，电阻R4，电阻R5，电阻R6，电阻R7，电阻R8，电阻R9，电阻R10，电阻R11，电阻R12，电阻R13，电阻R14，电阻R15，电阻R16，所述的电阻R1一端接数字芯片检测模块(4)的1脚，另一端接微处理器IAP15F2K61S2(1)的P0^0脚，所述的电阻R2一端接数字芯片检测模块(4)的2脚，另一端接微处理器IAP15F2K61S2(1)的P0^1脚，所述的电阻R3一端接数字芯片检测模块(4)的3脚，另一端接微处理器IAP15F2K61S2(1)的P0^2脚，所述的电阻R4一端接数字芯片检测模块(4)的4脚，另一端接微处理器IAP15F2K61S2(1)的P0^3脚，所述的电阻R5一端接数字芯片检测模块(4)的5脚，另一端接微处理器IAP15F2K61S2(1)的P0^4脚，所述的电阻R6一端接数字芯片检测模块(4)的6脚，另一端接微处理器IAP15F2K61S2(1)的P0^5脚，所述的电阻R7一端接数字芯片检测模块(4)的7脚，另一端接微处理器IAP15F2K61S2(1)的P0^6脚，所述的电阻R8一端接数字芯片检测模块(4)的8脚，另一端接微处理器IAP15F2K61S2(1)的P0^7脚，所述的电阻R9一端接数字芯片检测模块(4)的9脚，另一端接微处理器IAP15F2K61S2(1)的P2^0脚，所述的电阻R10一端接数字芯片检测模块(4)的10脚，另一端接微处理器IAP15F2K61S2(1)的P2^1脚，所述的电阻R11一端接数字芯片检测模块(4)的11脚，另一端接微处理器IAP15F2K61S2(1)的P2^2脚，所述的电阻R12一端接数字芯片检测模块(4)的12脚，另一端接微处理器IAP15F2K61S2(1)的P2^3脚，所述的电阻R13一端接数字芯片检测模块(4)的13脚，另一端接微处理器IAP15F2K61S2(1)的P2^4脚，所述的电阻R14一端接数字芯片检测模块(4)的14脚，另一端接微处理器IAP15F2K61S2(1)的P2^5脚，所述的电阻R15一端接数字芯片检测模块(4)的15脚，另一端接微处理器IAP15F2K61S2(1)的P2^6脚，所述的电阻R16一端接数字芯片检测模块(4)的16脚，另一端接微处理器IAP15F2K61S2(1)的P2^7脚；所述的模拟芯片检测模块(5)包括:电阻R17，电阻R18，电阻R19，电阻R20，电阻R21，所述的电阻R17一端接模拟芯片检测模块(5)的3脚，另一端接微处理器IAP15F2K61S2(1)的P3^0脚，所述的电阻R18一端接模拟芯片检测模块(5)的2脚，另一端接GND，所述的电阻R19一端接模拟芯片检测模块(5)的2脚，另一端接模拟芯片检测模块(5)的6脚，所述的电阻R20一端接模拟芯片检测模块(5)的6脚，另一端接电阻R21的A点，所述的电阻R21一端接GND，另一端接A点，所述的A点连接着微处理器IAP15F2K61S2(1)的P1^0脚；所述的时基芯片检测模块(6)包括:电阻R22，电阻R23，电容C1，电容C2，所述的电阻R22一端接+5V，另一端接B点，所述的电阻R23一端接B点，另一端接C点，所述的电容C1一端接C点，另一端接GND，所述的电容C2一端接GND，另一端接时基芯片检测模块(6)的5脚，所述的时基芯片检测模块(6)的7脚接在B点，所述的时基芯片检测模块(6)的2、6脚接在C点，所述的时基芯片检测模块(6)的1脚接在GND，所述的时基芯片检测模块(6)的4、8脚接在+5V，所述的时基芯片检测模块(6)的3脚接在微处理器IAP15F2K61S2(1)的P3^3脚；所述的三端稳压芯片模块(7)包括:电阻R24，电阻R25，电阻R26，电阻R27，电阻R28，电阻R29，电阻R30，电阻R31，电阻R32，所述的电阻R24，电阻R25，电阻R26串联，电阻R26的一端接地，另一端接微处理器IAP15F2K61S2(1)的P1^5脚；还有一组需要搭成负压转正压并分压的电路，所述的电阻R27，电阻R28，电阻R29串联，电阻R29的一端接地，另一端接D点，所述的电阻R30一端与D点连接，另一端与运算放大器U1的负极相连，所述的电阻R31一端与GND连接，另一端与运算放大器U1的正极相连，所述的电阻R32一端与运算放大器U1的输出端连接，另一端与运算放大器U1的负极相连，运算放大器U1的输出端与微处理器IAP15F2K61S2(1)的P1^6脚相连。

3.根据权利要求1所述的便携式常用芯片检测仪，其特征在于所述的电源模块(2)可以产生多种电压等级的正负压；所述的电源模块(2)包括：MC34063A、电阻R33、电阻R34、电阻R35、电容C3、电容C4、电容C5、电感L1、二极管D1、l7805、l7905、l7912，电阻R33一端与+18v连接，一端与MC34063A的1、7、8脚连接，电容C3一端与+18V端和MC34063A的6脚连接，一端与GND相连，电容C4的一端与MC34063A的3脚连接，另一端与MC34063A的4脚、电容C5的一端、OUT端连接，电感L1的一端与MC34063A的2脚连接，另一端与GND相连，二极管D1的一端与MC34063A的2脚连接，另一端与OUT端相连，MC34063A的5脚与电阻R34，电阻R35相连，电阻R35的一端与GND相连，电阻R35与OUT端相连，OUT端与l7912的IN1端相连，l7912的OUT1输出-12V，+18V端与l7812的IN2端相连，l7812的OUT2端与l7805的IN3端相连，l7812的OUT2输出+12V，l7805的OUT3输出+5V。