[实用新型]一种面向锁相环的NBTI老化延迟监测系统有效

专利信息
申请号: 201821352823.0 申请日: 2018-08-22
公开(公告)号: CN208063178U 公开(公告)日: 2018-11-06
发明(设计)人: 张斌;王海时;王天宝 申请(专利权)人: 成都信息工程大学;成都英世博睿科技有限公司
主分类号: H03L7/18 分类号: H03L7/18;H03K5/19;G01R31/28
代理公司: 北京元本知识产权代理事务所 11308 代理人: 常桑
地址: 610225 四川省成都*** 国省代码: 四川;51
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 实用新型涉及一种面向锁相环的NBTI老化延迟监测系统,其包括PLL反馈控制回路、分频比寄存器、低功耗NBTI老化延迟监测器和分频比产生电路;PLL反馈控制回路包括晶振、鉴相器、滤波器、压控振荡器和分频电路;低功耗NBTI老化延迟监测器的信号输入端接入睡眠控制信号,低功耗NBTI老化延迟监测器的信号输出端连接分频比产生电路的信号输入端;分频比产生电路的信号输出端连接分频比寄存器的信号输入端;分频比寄存器的信号输出端连接分频电路的另一个信号输入端。本实用新型能监测PMOS NBTI老化程度,调整锁相环的分频比,从而产生出频率与电路老化程度相适应的时钟信号提供给外部同步时序逻辑电路,避免时序错误。
搜索关键词: 分频比 老化 信号输入端 延迟 监测器 信号输出端 产生电路 低功耗 寄存器 锁相环 反馈控制回路 本实用新型 分频电路 监测系统 时钟信号提供 滤波器 压控振荡器 时序 控制信号 同步时序 鉴相器 晶振 睡眠 电路 监测 外部
【主权项】:
1.一种面向锁相环的NBTI老化延迟监测系统,其特征在于:所述NBTI老化延迟监测系统包括PLL反馈控制回路、分频比寄存器、低功耗NBTI老化延迟监测器和分频比产生电路;所述PLL反馈控制回路包括晶振、鉴相器、滤波器、压控振荡器和分频电路;所述晶振的信号输出端经过分频后连接所述鉴相器其中一个信号输入端;所述鉴相器的另一个信号输入端连接所述分频电路的信号输出端;所述鉴相器的信号输出端连接所述滤波器的信号输入端;所述滤波器的信号输出端连接所述压控振荡器的信号输入端;所述压控振荡器的信号输出端连接所述分频电路的其中一个信号输入端且与外部同步时序逻辑电路相连;所述低功耗NBTI老化延迟监测器的信号输入端接入睡眠控制信号,所述低功耗NBTI老化延迟监测器的信号输出端连接所述分频比产生电路的信号输入端;所述分频比产生电路的信号输出端连接所述分频比寄存器的信号输入端;所述分频比寄存器的信号输出端连接所述分频电路的另一个信号输入端。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于成都信息工程大学;成都英世博睿科技有限公司,未经成都信息工程大学;成都英世博睿科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201821352823.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top