[发明专利]一种薄膜晶体管器件及其制备方法在审

专利信息
申请号: 201811609351.7 申请日: 2018-12-27
公开(公告)号: CN109698276A 公开(公告)日: 2019-04-30
发明(设计)人: 丁明建;唐乃维;杨俊锋;冯毅龙;麦嘉盈;庄彤;陆旭兵 申请(专利权)人: 广州天极电子科技有限公司;华南师范大学
主分类号: H01L51/05 分类号: H01L51/05;H01L51/40
代理公司: 北京高沃律师事务所 11569 代理人: 代芳
地址: 510000 广东省广州市海珠区大干*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明提供了一种薄膜晶体管器件及其制备方法,属于晶体管制备技术领域。本发明的制备方法以镧锆氧薄膜为绝缘层,通过控制镧和锆的摩尔比为1:9~9:1,极大的提高了绝缘层的介电常数和电容密度,为降低薄膜晶体管器件的工作电压提供可能;同时,本发明对镧锆氧薄膜进行紫外光照射,紫外光将空气中的氧气变成臭氧,臭氧和紫外光的存在能够提高绝缘层的表面能,使绝缘层表面有机物分解,降低缺陷,使薄膜晶体管器件具有较高的迁移率;另外,紫外光的照射提高了绝缘层与有机半导体层之间的匹配性,进一步降低了器件工作电压。实施例的数据表明:本发明提供的薄膜晶体管器件的工作电压低至8V,迁移率高达1.13cm2/V·s;具有优异的综合性能。
搜索关键词: 薄膜晶体管器件 绝缘层 紫外光 制备 迁移率 镧锆氧 臭氧 薄膜 工作电压提供 器件工作电压 有机半导体层 制备技术领域 绝缘层表面 有机物分解 紫外光照射 介电常数 综合性能 电容 表面能 电压低 晶体管 摩尔比 匹配性 氧气 照射
【主权项】:
1.一种薄膜晶体管器件的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:(1)在基底上旋涂镧锆溶液,经退火处理,得到基底‑镧锆氧薄膜层结构;(2)将所述步骤(1)得到的基底‑镧锆氧薄膜结构进行紫外光照射,得到基底‑修饰镧锆氧薄膜层结构;(3)在所述步骤(2)得到的基底‑修饰镧锆氧薄膜结构的修饰镧锆氧薄膜上旋涂有机半导体溶液,经烘干,得到基体‑镧锆氧薄膜层‑有机半导体层结构;(4)在所述步骤(3)得到的基体‑镧锆氧薄膜层‑有机半导体层结构的有机半导体层上热蒸镀源漏电极,得到所述薄膜晶体管器件;所述镧锆溶液中镧和锆的摩尔比为1:9~9:1。
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