[发明专利]磁存储装置及其制造方法在审
申请号: | 201811598484.9 | 申请日: | 2018-12-26 |
公开(公告)号: | CN110890395A | 公开(公告)日: | 2020-03-17 |
发明(设计)人: | 矢加部惠弥;中崎靖;大坊忠臣;甲斐正;伊藤顺一;小池正浩;板井翔吾;石原贵光 | 申请(专利权)人: | 东芝存储器株式会社 |
主分类号: | H01L27/22 | 分类号: | H01L27/22;H01L43/08;H01L43/12 |
代理公司: | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人: | 杨林勳 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 实施方式主要涉及磁存储装置及其制造方法。实施方式的磁存储装置具备:下部区域;积层构造,设置在所述下部区域上,包含具有可变的磁化方向的第1磁性层、具有固定的磁化方向的第2磁性层、及设置在所述第1磁性层与所述第2磁性层之间且包含含有第1阳离子元素与第1阴离子元素的第1化合物的非磁性层;及特定材料层,设置在所述积层构造的侧面上,包含含有第2阳离子元素与第2阴离子元素的第2化合物;且所述第2阳离子元素的价数的绝对值比所述第1阳离子元素的价数的绝对值小,所述第2阴离子元素的价数的绝对值比所述第1阴离子元素的价数的绝对值小。 | ||
搜索关键词: | 存储 装置 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于东芝存储器株式会社,未经东芝存储器株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201811598484.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种电力系统中电缆的固定装置
- 下一篇:半导体装置的制造方法
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的