[发明专利]一种VCSEL芯片及其制作方法有效
申请号: | 201811474280.4 | 申请日: | 2018-12-04 |
公开(公告)号: | CN109616871B | 公开(公告)日: | 2020-06-26 |
发明(设计)人: | 田宇;韩效亚;吴真龙;杜石磊 | 申请(专利权)人: | 扬州乾照光电有限公司 |
主分类号: | H01S5/343 | 分类号: | H01S5/343;H01S5/183 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 王宝筠 |
地址: | 225101 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明提供了一种VCSEL芯片及其制作方法,包括:提供样品,样品包括衬底以及位于衬底表面的外延结构层,外延结构层包括第一半导体层、MQW层、第二半导体层和第一GaAs缓冲层;对样品进行多个阶段的烘烤,并在中间的至少一个阶段中,使样品在As源气体中烘烤;采用间歇式生长方法在外延结构层表面生长第二GaAs缓冲层。其中对样品进行多个阶段的烘烤,可以消除样品表面的杂质、胶等,从而可以提高后续形成的膜层的质量;而采用间歇式生长方法生长第二GaAs缓冲层,可以使得第二GaAs缓冲层具有平整的表面,进而可以提高后续形成的膜层的质量,使得VCSEL芯片具有较低的阈值电流,较高的增益以及更高的功率。 | ||
搜索关键词: | 一种 vcsel 芯片 及其 制作方法 | ||
【主权项】:
1.一种VCSEL芯片的制作方法,其特征在于,包括:提供样品,所述样品包括衬底以及位于所述衬底表面的外延结构层,所述外延结构层包括第一半导体层、MQW层、第二半导体层和第一GaAs缓冲层;对所述样品进行多个阶段的烘烤,并在中间的至少一个阶段中,使所述样品在As源气体中烘烤;采用间歇式生长方法在所述外延结构层表面生长第二GaAs缓冲层。
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