[发明专利]一种基于X射线图像的复合轨枕孔隙缺陷检测方法有效

专利信息
申请号: 201811466692.3 申请日: 2018-12-03
公开(公告)号: CN109671056B 公开(公告)日: 2020-10-27
发明(设计)人: 张周锁;孟梨斌;贾俊康;王岩 申请(专利权)人: 西安交通大学
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06T5/00;G06T7/13;G06T7/62;G06T11/00
代理公司: 西安通大专利代理有限责任公司 61200 代理人: 徐文权
地址: 710049 陕*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开了一种基于X射线的复合轨枕孔隙缺陷检测方法,首先,在复合轨枕横断面周向上布置若干个射线源与探测器,通过同时照射扫描获得轨枕不同角度的原始投影图像;然后,基于复合轨枕图像噪声特性,构建自适应全变分模型进行降噪,并对降噪后图像进行模糊增强处理;接着,基于FDK锥束重建算法,利用多幅不同角度的二维图像作为输入进行轨枕断面图像重建;最后,采用行列EMD方法对重建图像中的孔隙缺陷特征进行增强提取,并利用改进CV模型对缺陷区域进行分割,进而计算缺陷尺寸特征参数,实现复合轨枕孔隙缺陷的定量检测。
搜索关键词: 一种 基于 射线 图像 复合 轨枕 孔隙 缺陷 检测 方法
【主权项】:
1.一种基于X射线图像的复合轨枕孔隙缺陷检测方法,其特征在于,包括以下步骤:(1)原始投影图像的获取在复合轨枕横断面周向上布置多组射线源与探测器,通过同时照射采样获得轨枕多个角度下的原始投影图像;(2)基于自适应全变分模型的图像去噪处理及图像模糊增强处理根据原始投影图像中噪声特性,构建自适应全变分模型对原始图像进行降噪,并对降噪后图像进行模糊增强;(3)轨枕断面图像的快速重建以多幅不同角度的降噪增强处理后投影图像为输入,利用离散化FDK锥束重建算法,优选参数进行轨枕断面图像快速重建,得到轨枕断面图像;(4)基于行列EMD的缺陷特征提取对重建后的轨枕断面图像,采用行列EMD方法对其中的孔隙缺陷特征进行增强提取,得到缺陷特征图像;(5)基于改进CV模型的缺陷分割识别根据缺陷特征图像,利用改进CV模型进行缺陷区域分割,进而计算缺陷尺寸参数,实现复合轨枕孔隙缺陷的定量检测。
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