[发明专利]一种基于X射线图像的复合轨枕孔隙缺陷检测方法有效

专利信息
申请号: 201811466692.3 申请日: 2018-12-03
公开(公告)号: CN109671056B 公开(公告)日: 2020-10-27
发明(设计)人: 张周锁;孟梨斌;贾俊康;王岩 申请(专利权)人: 西安交通大学
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06T5/00;G06T7/13;G06T7/62;G06T11/00
代理公司: 西安通大专利代理有限责任公司 61200 代理人: 徐文权
地址: 710049 陕*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 射线 图像 复合 轨枕 孔隙 缺陷 检测 方法
【权利要求书】:

1.一种基于X射线图像的复合轨枕孔隙缺陷检测方法,其特征在于,包括以下步骤:

(1)原始投影图像的获取

在复合轨枕横断面周向上布置多组射线源与探测器,通过同时照射采样获得轨枕多个角度下的原始投影图像;

(2)基于自适应全变分模型的图像去噪处理及图像模糊增强处理

根据原始投影图像中噪声特性,构建自适应全变分模型对原始图像进行降噪,并对降噪后图像进行模糊增强;

(3)轨枕断面图像的快速重建

以多幅不同角度的降噪增强处理后投影图像为输入,利用离散化FDK锥束重建算法,优选参数进行轨枕断面图像快速重建,得到轨枕断面图像;

(4)基于行列EMD的缺陷特征提取

对重建后的轨枕断面图像,采用行列EMD方法对其中的孔隙缺陷特征进行增强提取,得到缺陷特征图像;

(5)基于改进CV模型的缺陷分割识别

根据缺陷特征图像,利用改进CV模型进行缺陷区域分割,进而计算缺陷尺寸参数,实现复合轨枕孔隙缺陷的定量检测。

2.根据权利要求1所述的一种基于X射线图像的复合轨枕孔隙缺陷检测方法,其特征在于,步骤(2)具体为:

首先,针对复合轨枕特有背景条纹噪声特点,构造自适应全变分模型为:

其中,TV表示全变分模型,p(x,y)为自适应参数,f为去噪后所得图像,f0为原始投影图像,Ω表示图像空间,x,y为像素点空间坐标,且x,y∈Ω,λ为保真项系数,▽表示梯度运算;

然后,引入四个边缘检测算子tθ,确定各点处的自适应参数p(x,y)值:

其中,tθ为边缘检测算子,共四个方向,Θ={0°,45°,90°,135°},*为卷积运算,当θ=0°时,O1=[00],其他边缘检测算子tθ由t0旋转45°,90°和135°得到;

将求取的各点自适应参数p(x,y)值代入所构建模型,求取minTVp(x,y)(f)实现原始图像中耦合背景噪声的去除;

最后,利用经典模糊增强方法对降噪后图像进行对比度增强。

3.根据权利要求1所述的一种基于X射线图像的复合轨枕孔隙缺陷检测方法,其特征在于,步骤(3)具体为:

首先,对经去噪增强后的不同角度照射所得投影数据进行修正,得到修正后投影结果其中,(u,v)表示以探测器中心原点O为基准,图像像素点的行标和列标,表示照射扫描角度;

然后,构造滤波器hnew(u),对修正后的投影数据进行逐行滤波,得到滤波后数据

最后,对所有各个角度的滤波后数据进行加权反投影,得到重建体数据f(x,y,z);其中,(x,y,z)表示重建体数据的空间坐标。

4.根据权利要求3所述的一种基于X射线图像的复合轨枕孔隙缺陷检测方法,其特征在于,步骤(4)具体为:

首先,确定重建后体数据f(x,y,z)中的坐标z值,选取对应截面图像f(x,y,z0);然后,将该对应断面图像矩阵f(x,y)按行拆分为多个一维信号,依次提取各行数据进行五层EMD分解,筛选低频IMF分量重组得到图像Ir;接着,将矩阵f(x,y)按列拆分为多个一维信号,依次提取各列数据进行五层EMD分解,筛选低频IMF分量重组得到图像Ic;最后,将Ir与Ic进行加权融合得到缺陷特征图像I0

5.根据权利要求4所述的一种基于X射线图像的复合轨枕孔隙缺陷检测方法,其特征在于,步骤(5)具体为:

首先,构造改进CV模型如下:

其中,C是活动轮廓曲线,L(C),A(C)为约束项,μ,ν,λ12是权重系数,Gσ,k(x,y)表示标准差为σ、窗口大小为(2k+1)×(2k+1)的高斯核函数,f1(x,y)和f2(x,y)分别表示轮廓内外的局部邻域的拟合函数,I0为上一步所得缺陷特征图像;

然后,利用模型求取minE(C),实现缺陷区域的准确分割;最后,对分割后图像进行二值化转换并计算缺陷相关尺寸参数,实现缺陷的定量识别。

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