[发明专利]封装结构及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201811423753.8 申请日: 2018-11-27
公开(公告)号: CN110034106B 公开(公告)日: 2021-05-18
发明(设计)人: 张简上煜;徐宏欣;林南君 申请(专利权)人: 力成科技股份有限公司
主分类号: H01L25/18 分类号: H01L25/18;H01L23/31;H01L21/56;H01L21/98
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人: 吴志红;臧建明
地址: 中国台湾新竹县*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 发明提供一种封装结构包括重布线路结构、晶粒、至少一连接模块、第一绝缘密封体、堆叠晶片以及第二绝缘密封体。晶粒配置并电性连接至重布线路结构。连接模块配置于重布线路结构上。连接模块具有保护层以及多个导电条。多个导电条嵌入保护层中。保护层包括对应于多个导电条的多个开口。第一绝缘密封体密封晶粒与连接模块。堆叠晶片配置于第一绝缘密封体与晶粒上。堆叠晶片电性连接至连接模块。第二绝缘密封体密封堆叠晶片。另提供一种封装结构的制造方法。
搜索关键词: 封装 结构 及其 制造 方法
【主权项】:
1.一种封装结构,包括:重布线路结构;晶粒,配置并电性连接至所述重布线路结构;至少一连接模块,配置于所述重布线路结构上,所述连接模块具有保护层以及多个导电条,其中所述多个导电条嵌入所述保护层中,且所述保护层包括对应于所述多个导电条的多个开口;第一绝缘密封体,密封所述晶粒与所述连接模块;堆叠晶片,配置于所述第一绝缘密封体与所述晶粒上,其中所述堆叠晶片电性连接至所述连接模块;以及第二绝缘密封体,密封所述堆叠晶片。
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