[发明专利]采样电路和使用采样电路的半导体存储器件有效

专利信息
申请号: 201811408074.3 申请日: 2018-11-23
公开(公告)号: CN110390963B 公开(公告)日: 2023-04-25
发明(设计)人: 金宝滥;权大汉 申请(专利权)人: 爱思开海力士有限公司
主分类号: G11C7/10 分类号: G11C7/10
代理公司: 北京弘权知识产权代理有限公司 11363 代理人: 许伟群;郭放
地址: 韩国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明公开了一种采样电路和使用采样电路的半导体存储器件。所述采样电路可以包括第一定时确定电路、第二定时确定电路和采样数据输出电路。所述第一定时确定电路可以响应于第一采样定时信号来确定采样数据的第一定时。所述第二定时确定电路可以响应于第二采样定时信号来确定所述采样数据的第二定时。所述采样数据输出电路可以响应于来自所述第一定时确定电路和所述第二定时确定电路的输出,来在所述第一定时与所述第二定时之间输出具有所述数据的有效数据值的所述采样数据。
搜索关键词: 采样 电路 使用 半导体 存储 器件
【主权项】:
1.一种采样电路,包括:第一定时确定电路,其用于响应于第一采样定时信号来确定采样数据的第一定时;第二定时确定电路,其用于响应于第二采样定时信号来确定所述采样数据的第二定时;以及采样数据输出电路,其用于响应于来自所述第一定时确定电路和所述第二定时确定电路的输出信号,来输出具有所述采样数据的在所述第一定时与所述第二定时之间的有效数据值的所述采样数据。
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