[发明专利]X射线探测单元、探测器及探测系统

摘要

本发明提供一种X射线探测单元、探测器及探测系统，X射线探测单元包括：首尾相接形成闭合区域的转换材料层、光电二极管像素及反射层，转换材料层的面积大于光电二极管像素的面积。若干X射线探测单元一维线阵排布形成X射线探测器。X射线探测器，射线源及传送装置构成X射线探测系统，X射线探测器与射线源相对设置，传送装置设置于X射线探测器及所述射线源之间；通过传送装置的移动，X射线探测器对被检测物进行多次一维检测，进而获得检测物的二维检测图像。本发明将转换材料层及光电二极管像素设置在不同维度，以此避免光电二极管像素面积对转换材料层面积的影响，通过增大转换材料层面积提高转换效率同时提高信噪比。

主权项

1.一种X射线探测单元，其特征在于，所述X射线探测单元至少包括：转换材料层、光电二极管像素及反射层；其中，所述转换材料层、所述光电二极管像素及所述反射层首尾相接，形成闭合区域，且所述转换材料层的面积大于所述光电二极管像素的面积。